【求助】Hitachi F-4500熒光分光光度計的使用
求助Hitachi F-4500熒光分光光度計的使用
1.測固體材料時,同一樣品為什么每次測試的熒光強度值變動很大,(參數(shù)設(shè)置都沒有變化),這個儀器對樣品大小形狀有要求嗎?測試穿透厚度是多少?
2.如何去除倍頻峰?
請高手指點,謝謝啦!
[ Last edited by zyming20051 on 2008-12-17 at 13:52 ]
返回小木蟲查看更多
今日熱帖
求助Hitachi F-4500熒光分光光度計的使用
1.測固體材料時,同一樣品為什么每次測試的熒光強度值變動很大,(參數(shù)設(shè)置都沒有變化),這個儀器對樣品大小形狀有要求嗎?測試穿透厚度是多少?
2.如何去除倍頻峰?
請高手指點,謝謝啦!
[ Last edited by zyming20051 on 2008-12-17 at 13:52 ]
返回小木蟲查看更多
京公網(wǎng)安備 11010802022153號
1、你是同一種樣品,不同時間測量的嗎?如果是,強度變化很大,很正常。因為因素太多。
2、用濾色片
我是同一時間測得呀,怎么會變化也是很大呢?
我沒發(fā)現(xiàn)機器有插濾波片的地方啊,以前用過RF-5301PC的就可以放濾波片的
仔細(xì)找會看到放濾波片的位置
確實和樣品多少大小有很大關(guān)系
可是我同樣一個樣品測完以后就測第二次就會變動很大呀,那要怎樣才能穩(wěn)定呢?還有具體對樣品的大小什么要求呢?我是薄膜樣品,大概是0.5cm*0.5cm大小的
首先,樣品擺放的位置影響是最大的,我用的儀器和你不一樣,但是我的一般是一個面打進去激光,另外一個垂直的面測試。這樣盡可能減少反射等的影響。對折射率高的樣品很有用。本身這個測試主要看的是峰的位置,形狀,而不是強度。所以強度的不同不要緊。其它只要沒問題就可以了,還有就是要比較的樣品最好是同一次測試才有可必性。
倍頻峰一般按照上述的方法測試的話相對較小,如果需要去除,可以手動修改一下圖,或者加濾波片吧,對應(yīng)的,一般比較難找合適的?茨銈冇袟l件用濾波片最好
[ Last edited by yinshengxu on 2008-12-14 at 22:24 ],
怎么會和強度不要緊呢?不同濃度的摻雜稀土要比較的就是強度啊。而且測試樣品臺就是設(shè)置剛好的垂直于入射光和發(fā)射光接受器的呀
我說的是樣品不動的條件下,連續(xù)測幾次就會有強度變化值很大,是否是參數(shù)設(shè)置的問題?
所以同一條件下測試就可以了,你可以把激光功率低一點嗎?樣品都不動,只能是樣品被打壞,其它沒有就剩下儀器有問題了。