顯微鏡看形貌，X射線表征物相，光譜分析物相結(jié)合能等，各種儀器測定物質(zhì)性能，不知道想知道什么。

XPS:原子能級能量變化。一般能說明分子中那些原子發(fā)生了化學反應。
SEM：物質(zhì)的形貌。也可以測量微粒的粒徑。
TEM：常用于研究納米材料的結(jié)晶情況，觀察納米粒子的形貌、分散情況及測量和評估納米粒子的粒徑。
TGA:通過TGA 實驗有助于研究晶體性質(zhì)的變化，如熔化、蒸發(fā)、升華和吸附等物質(zhì)的物理現(xiàn)象；也有助于研究物質(zhì)的脫水、解離、氧化、還原等物質(zhì)的化學現(xiàn)象.
DSC:可測定多種熱力學和動力學參數(shù)，如比熱容、焓變、反應熱、相圖、反應速率、結(jié)晶速率、高聚物結(jié)晶度、樣品線度等.
FT-IR:確定有機物官能團。
MS:確定化合物分子量。
NMR：確定H和C的種類和數(shù)粒?/p>

你的問題很難回答，你是說理論的還是實驗的，總得有個譜吧，哈哈，

實驗的：
XRD：晶體結(jié)構，畸變，摻雜等信息可以獲等
SEM/TEM/STEM:可以看微觀形貌，表層元素，晶格常數(shù)，結(jié)晶情況等
Raman/FT-IR:可以看樣品的分子振動，化學鍵變化等
EPR:元素價態(tài)
中子活化分析：分析痕量成分
原子吸收光譜：鑒定物質(zhì)組成元素
X射線熒光：分析物質(zhì)組成
激光光譜/熒光光譜/熒光衰減/熱釋光譜：發(fā)光材料的光譜學性質(zhì)
DTA/DSC:溫度變化引起的物質(zhì)相變和分解等

我的研究領域基本這些

XRD:物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面。取向分析包括測定單晶取向和多晶的結(jié)構

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