粒徑在200-300納米的產(chǎn)品表征的時候是做透射電鏡還是做掃描電鏡，哪個更好一些？
求助：粒徑在200-300納米的產(chǎn)品表征的時候是做透射電鏡還是做掃描電鏡，哪個更好一些？急
返回小木蟲查看更多
今日熱帖
猜你喜歡
板塊導(dǎo)航
- 網(wǎng)絡(luò)生活
- 資源共享
- 化學(xué)化工
- 專業(yè)學(xué)科
- 科研生活
- 生物醫(yī)藥
- 材料
- 計算模擬
- 學(xué)術(shù)交流
- 出國留學(xué)
- 注冊執(zhí)考
24小時熱帖
換一批
- 下載小木蟲APP
- 與700萬科研達(dá)人隨時交流
-
二維碼
-
IOS
-
安卓
京公網(wǎng)安備 11010802022153號
sem一般只能看你所制備物質(zhì)的表面形貌，如果你要看形貌這個足夠了！如果你想深入的了解一下你所制備的納米結(jié)構(gòu)是不是具有孔狀結(jié)構(gòu)最好還是要做個TEM，呵呵
如果只粗略看粒子的形貌而不關(guān)心更細(xì)致的結(jié)構(gòu)SEM足夠了，
最好是SEM和TEM結(jié)合來研究問題。
用SEM可以看清大體形貌，而且對粒徑較大粒子較好，
而TEM對小粒徑粒子較好，因為其電壓更高，分辨率更強(qiáng)些，而且可以根據(jù)襯度來區(qū)分其有無孔或核殼結(jié)構(gòu)之類的細(xì)微差別，
最好做透射、、、看的更好點。