薄膜阻抗的測(cè)試
為什么薄膜阻抗每次測(cè)試都不相同？
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京公網(wǎng)安備 11010802022153號(hào)
儀器精度原因?測(cè)量誤差?操作誤差?膜層不均勻性?
測(cè)試的時(shí)候是重復(fù)測(cè)量，沒(méi)有再進(jìn)行操作，應(yīng)該不會(huì)有操作誤差
膜層的均勻性應(yīng)該沒(méi)什么問(wèn)題
儀器的精度和測(cè)量誤差就不知道了
你是否有測(cè)試過(guò)薄膜的阻抗
，