如圖,原始數(shù)據(jù)壓平后顆粒后邊帶有很多溝狀,求AFM大神告知解決辦法 另外,掃除的圖出現(xiàn)下邊這種狀況怎么解決?今天掃圖,老是這樣,很惱火啊 返回小木蟲查看更多
第一幅圖與第二幅圖的情況是不一樣的。 第一幅圖中,你看到的拖影問題是由于數(shù)據(jù)處理中使用平滑而導(dǎo)致(叫flattening或者leveling)。 其原理是這樣的: 由于大部分基底本身有一個傾角, 所以掃描出來的圖片如果不做平滑處理,那么就會出現(xiàn)結(jié)果一邊高一邊低的情況。表現(xiàn)在圖像上就是從一邊亮,一邊暗。 因此,為了得到樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),就必須對每一條掃描線進(jìn)行擬合,y=a*x。 然后從原始數(shù)據(jù)中減去這條擬合曲線。 由于系統(tǒng)無法區(qū)分基底跟真實(shí)樣品,所以擬合出來y=a*x就會有很大的誤差, 導(dǎo)致減去的擬合線后的結(jié)果在真實(shí)凸起樣品部分會有陰影。 不知道我這樣解釋,你明白沒有? 第二幅圖,你壓得力不夠大,或者是Igain不夠高,在顆粒出出現(xiàn)針尖與樣品失去接觸或者是顆粒跟針尖一起移動的情況。 這是參數(shù)沒有調(diào)好的結(jié)果,與數(shù)據(jù)處理無關(guān),
第二個問題,你可以用trance 和retrance對比一下,找到最佳參數(shù);另外考慮一下是否探針磨損了,掃一下標(biāo)準(zhǔn)樣品看看磨損情況。
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第一幅圖與第二幅圖的情況是不一樣的。
第一幅圖中,你看到的拖影問題是由于數(shù)據(jù)處理中使用平滑而導(dǎo)致(叫flattening或者leveling)。 其原理是這樣的: 由于大部分基底本身有一個傾角, 所以掃描出來的圖片如果不做平滑處理,那么就會出現(xiàn)結(jié)果一邊高一邊低的情況。表現(xiàn)在圖像上就是從一邊亮,一邊暗。 因此,為了得到樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),就必須對每一條掃描線進(jìn)行擬合,y=a*x。 然后從原始數(shù)據(jù)中減去這條擬合曲線。 由于系統(tǒng)無法區(qū)分基底跟真實(shí)樣品,所以擬合出來y=a*x就會有很大的誤差, 導(dǎo)致減去的擬合線后的結(jié)果在真實(shí)凸起樣品部分會有陰影。 不知道我這樣解釋,你明白沒有?
第二幅圖,你壓得力不夠大,或者是Igain不夠高,在顆粒出出現(xiàn)針尖與樣品失去接觸或者是顆粒跟針尖一起移動的情況。 這是參數(shù)沒有調(diào)好的結(jié)果,與數(shù)據(jù)處理無關(guān),
二樓說得對,應(yīng)該是參數(shù)沒調(diào)好。
另外有些樣品表面有有particle之類的超出量程也會造成這種亮點(diǎn)
第二個問題,你可以用trance 和retrance對比一下,找到最佳參數(shù);另外考慮一下是否探針磨損了,掃一下標(biāo)準(zhǔn)樣品看看磨損情況。
對比trace和retrace怎么調(diào)整參數(shù)呢?