各位同仁，小弟最近做實(shí)驗(yàn)碰到這個(gè)問(wèn)題，如果用一個(gè)普通的工業(yè)CCD去測(cè)量激光光束，測(cè)量圖案會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，Sample Text，但是如果用一個(gè)光束輪廓分析儀同樣來(lái)測(cè)量，是不會(huì)有這個(gè)問(wèn)題的，所以我的問(wèn)題就是，如果用普通的CCD測(cè)量，如何通過(guò)外部方法來(lái)解決測(cè)量光束的干涉？然后為什么用光束分析儀就沒(méi)有，這個(gè)是為什么？ 返回小木蟲(chóng)查看更多