第三屆“納米材料表征與檢測技術(shù)”主題網(wǎng)絡(luò)研討會（2020年11月4日）
【1】譚平恒 (中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所研究員)
《顯微拉曼光譜測試技術(shù)及其應(yīng)用》
【2】孫立濤 (東南大學(xué)教授)
《納米材料的原子尺度表征與原位調(diào)控》
【3】褚衛(wèi)國 (國家納米科學(xué)中心研究員)
《鋰離子電池正極納米材料及表征與檢測技術(shù)》
【4】劉偉麗 (北京市理化分析測試中心研究員)
《石墨烯粉體中非金屬雜質(zhì)的檢測方法研究》
【5】林君浩 (南方科技大學(xué)研究員)
《低電壓透射掃描電子顯微技術(shù)在新型二維材料缺陷結(jié)構(gòu)表征中的應(yīng)用與物性關(guān)聯(lián)的研究》
【6】解德剛 (西安交通大學(xué)副教授)
《基于電子顯微鏡的微納尺度原位實驗技術(shù)》
【7】劉夢溪 (國家納米科學(xué)中心副研究員)
《qPlus-AFM在低維材料研究中的應(yīng)用》
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