缺陷能級的產(chǎn)生與缺陷的關(guān)系？
想請教有經(jīng)驗的計算晶體缺陷的蟲友們。禁帶中缺陷態(tài)的產(chǎn)生和構(gòu)造的缺陷模型之間的關(guān)系有規(guī)律可循嗎？構(gòu)造一個什么樣的模型才會在禁帶中產(chǎn)生好幾條缺陷態(tài)呢？有沒有相關(guān)的資料可以推薦查閱的？感謝！
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