缺陷形成能的計(jì)算
我從文獻(xiàn)和小木蟲上看到有兩種不同的缺陷形成能的公式，一個(gè)是第一張圖中的，一個(gè)是第二張圖中的，感覺這兩個(gè)公式算出來的值應(yīng)該不太一樣，想請教大家，這兩個(gè)公式有什么區(qū)別呢?分別適用于什么情況，感謝！
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公式1 最右手邊的一個(gè)變量要如何計(jì)算？
n代表某種缺陷的數(shù)量，μ代表該缺陷的化學(xué)式，第一性原理的文獻(xiàn)里有很多介紹的 ，你可以看一下
尾巴那一項(xiàng) q(EF-Ev-deltaV)
這一項(xiàng)是如何得到的呢？
scf 的得到的是Fermi energy ， 應(yīng)該是Ef 。
Ev 和deltaV 如何得到
非常感謝
，
請問deltaV如何得到呢？
我也不知道，最后沒加這一項(xiàng)