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guotao019新蟲 (著名寫手)
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[求助]
求助大神:N型SiC歐姆接觸測試問題 已有2人參與
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N外延片上離子注入形成N型和P型4H-SiC,目標濃度為3*10^20 cm-3,深度300nm,箱型分布;做的歐姆接觸,用圓形傳輸線法測試,N型的擬合效果都特別差,得出的比接觸值也不對,但P型的擬合的都很好。 求大神告知原因? ps: 退火溫度為1000℃/3min RTA,N和P退火溫度一樣。退火后形貌也不錯。 版圖:左邊圓環(huán)內(nèi)徑均為150um,外徑步長為10um增大。右邊圓環(huán)內(nèi)徑均為100um,外徑步長為10um增大。 N型.png p型.png 版圖.png@yswyx |
金蟲 (小有名氣)
金蟲 (小有名氣)
新蟲 (著名寫手)
金蟲 (小有名氣)
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我覺得是因為測試問題,SiC的電子遷移率1000cm2·V-1·s-1,空穴遷移率只有115cm2·V-1·s-1,幾乎差了10倍,所以如果摻雜濃度和結深一樣,結果方塊電阻應該也差了10倍。我用你給的值算了一下,n型的方塊電阻大概2Ω,p型的大概18Ω 這個時候兩探針和四探針的差別就很明顯了,一般探針的接觸電阻有幾Ω,p型的電阻測出來值肯定都在幾十歐,影響不大,還能成線性,n型的值就在幾歐,這個時候接觸電阻的影響很大了,每次測量接觸電阻都可能不同,所以結果就曲里拐彎不在一條線上了。 試試用四探針法測量n型。 還有就是你這個p型的半導體看著阻值都在幾百歐,比計算值大了5~10倍左右,感覺結深或者濃度不大夠。 PS:問一下你是那個學校的?你們那邊做SiC有沒有那種做Al注入的高能量注入設備? |
新蟲 (著名寫手)
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我用的環(huán)形電極,提取的P型的方塊電阻在10K左右。而且N型碳化硅注入后的方塊電阻值會在百歐到1K之間,現(xiàn)在水平是做不到幾個歐的,應該不是測試問題。我是西電的,北方能做碳化硅離子注入的也就兩家吧,一個是北京泰科天潤,一個是半導體所。我是在泰科做的,Al最高能注的能量是400KeV貌似。 發(fā)自小木蟲Android客戶端 |
金蟲 (小有名氣)
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不好意思沒說清楚.. 我的意思是,你看你給的圖,n型的電阻值在8歐姆左右,不同距離的差異在一歐以下,這個時候接觸電阻變化,會影響到你的測量結果,因為每次扎針接觸電阻都不一樣,像p型那樣兩個點阻值差幾百歐的可以忽略,差一歐姆的不能忽略,所以要用四探針法。 發(fā)自小木蟲Android客戶端 |
新蟲 (小有名氣)
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樓主你好,你現(xiàn)在解決n的問題了嗎?我也做過n-4H SIC歐姆接觸,環(huán)形傳輸線得到的方塊電阻在幾十歐,測得的I-V線性,但R-ln(rn/r0)點比較散沒法擬合,請問你是這種情況嗎?還想請教一下I-V線性是不是就說明形成歐姆接觸了? 發(fā)自小木蟲Android客戶端 |
新蟲 (小有名氣)
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