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求助晶粒尺寸測量?? 已有2人參與
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看到一些文獻(xiàn)上用XRD計(jì)算晶粒尺寸,其晶粒尺寸達(dá)到幾百nm,甚至微米級(jí)別。 但是用XRD計(jì)算晶粒尺寸好像對(duì)于100nm以下精確吧,超過100nm后就不準(zhǔn)了是不是這樣?? 我用了SEM觀察,但都是很大的一塊,根本看不到晶粒。 求教還有什么方法可以測量晶粒尺寸?? 謝謝 |
至尊木蟲 (著名寫手)
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常見晶粒測量方法: 1、SEM,直觀,取一定數(shù)量(百位數(shù)以上)的晶粒測量其尺寸,然后統(tǒng)計(jì)其數(shù)值,并附上SEM圖。樓主看不到晶粒,應(yīng)當(dāng)是放大比例或者焦距沒調(diào)好。 2、TEM,和SEM類似。但是這兩者有一最大的問題:所得晶粒尺寸可能不具有代表性,也就是說所得晶粒尺寸只代表你所看到的一小部分,而可能無法代表全部。 3、XRD,可以代表整體,但不夠直觀,且半峰寬等可能存在較大測量誤差。一般來說,粒徑越大,XRD峰越明顯,更易于測量。 |
新蟲 (小有名氣)
銀蟲 (小有名氣)

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