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[求助]
請問各位大牛,關(guān)于X射線衍射峰發(fā)生小角度偏移 已有3人參與
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| 如題,我制備的Ni涂層,衍射峰發(fā)生了0.5°左右的偏移,請問,怎么去解釋呢?我目前只知道,是因為有較大尺寸晶體的摻雜引起的,導(dǎo)致了晶格畸變。那么具體怎么深入分析呢?本人對材料了解的不是太深入,煩請各位大牛賜教,或是指點一下有哪些書籍,論文等。謝謝 |
木蟲 (著名寫手)
| 衍射峰發(fā)生偏移的因素有很多,包括應(yīng)力、摻雜形成固溶體等等。對于金屬涂層而言,如果與基體發(fā)生擴散或者反應(yīng)形成合金(包括固溶體),在XRD中體現(xiàn)出來的就是峰位的偏移。峰位往小角度偏移的衍射峰,所對應(yīng)晶面的間距變大,反之,對應(yīng)晶面的晶面間距變小。如果是摻雜引起,可以從摻雜元素在基體材料中的摻雜位置,例如間隙摻雜或原位取代等,來分析摻雜造成的晶格畸變;如果為應(yīng)力造成,則可以從相變、熱膨脹系數(shù)差異等,結(jié)合應(yīng)力分布或者計算來進行分析。 |
木蟲 (著名寫手)
木蟲 (著名寫手)
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我個人覺得歸結(jié)于殘余應(yīng)力是說得過去的。畢竟對于薄膜材料而言,殘余應(yīng)力的存在還是很普遍的,尤其是復(fù)相膜,由于CTE差異造成的應(yīng)力很多時候很明顯。原來分析的摻雜或者固溶,應(yīng)該都是在兩相的界面附近,可能會存在。置于AES和XPS,如果真的有固溶或者摻雜,應(yīng)該是可以測得出來的,當(dāng)然,需要高于檢測限。至于改變結(jié)論,我覺得不會影響拒稿。審稿本身就是對稿件內(nèi)容的評審,有錯誤的地方指出來才能改正,這個沒啥的。認真修改,引用下審稿人的相關(guān)領(lǐng)域文章。不過如果是歸結(jié)到應(yīng)力的話,建議算一下應(yīng)力大小,最好有一些理論深度,這樣會好中一些~~~個人意見,僅供參考~~~預(yù)祝文章早日接收~~~ |
鐵桿木蟲 (著名寫手)

木蟲之王 (文學(xué)泰斗)
peterflyer
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