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minizhuangge銀蟲 (小有名氣)
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[求助]
XPS測(cè)試細(xì)節(jié)
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求助 我檢測(cè)的XPS樣品,在總譜里面有S的峰在單獨(dú)掃描的S元素中沒(méi)有峰,這是因?yàn)槭裁?br /> XPS測(cè)試是打點(diǎn)嗎?傋V也是打點(diǎn)嗎,還是類似于SEM的點(diǎn)掃面掃一樣啊 求知情人告解 總譜 S 2p |

禁蟲 (著名寫手)
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銀蟲 (正式寫手)
銀蟲 (正式寫手)
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看到了 S高分辨只采集了三次 這個(gè)次數(shù)太少 應(yīng)該嘗試多采集幾次再看看有沒(méi)有S 發(fā)自小木蟲IOS客戶端 |
銀蟲 (小有名氣)
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