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小蟲(chóng)子咬人了新蟲(chóng) (小有名氣)
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[求助]
使用AFM表征二維材料時(shí)(已轉(zhuǎn)移到SiO2),怎樣做到在材料表面劃開(kāi)一道口子測(cè)高度? 已有1人參與
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我是在文獻(xiàn)中看到的,作者為了測(cè)二維材料高度,將材料先轉(zhuǎn)移帶SiO2上,然后不知道用什么工具在材料表面劃出了一道規(guī)則的缺口,可以看到SiO2表面,最后使用AFM測(cè)二維材料高度。請(qǐng)問(wèn)各位師兄師姐,他們是怎樣做到的? 另外我還想問(wèn)一下,將二維材料轉(zhuǎn)移到TEM grid的時(shí)候有什么技巧?我想在TEM中看到切面的層數(shù)條痕,自己做過(guò)幾次都沒(méi)有成功! 謝謝你們! |
新蟲(chóng) (小有名氣)
新蟲(chóng) (初入文壇)
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