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kevin123581金蟲 (正式寫手)
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薄膜的TEM測試顆粒度的大小 已有2人參與
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請問我想要用TEM測量沉積的Si薄膜的顆粒度大小 , 樣品應該如何準備才好呢? 聽人說薄膜需要直接在銅網(wǎng)上? 還是一般的沉積在基底上也可以? 對薄膜厚度有何要求,樣品尺寸大小有何要求? 謝謝大家 |
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| 如果銅網(wǎng)直接沉積沒有影響那最好直接沉積到銅網(wǎng),如果膜太厚或者銅網(wǎng)會有影響需要用轉(zhuǎn)移或者其他辦法處理,厚度越薄越好,高分辨盡量50nm以下 |
金蟲 (正式寫手)
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