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[求助]
二維粉晶衍射數(shù)據(jù)處理 已有1人參與
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大家好,我是粉晶衍射新手,現(xiàn)在碰到一些問(wèn)題,還望各位大神指教。 我收集了一批數(shù)據(jù),是二維數(shù)據(jù),想要index。 我的計(jì)劃是 1. 將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為程序可讀(我已經(jīng)寫(xiě)了c++程序完成) 2. 在Dawn 中將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為一維數(shù)據(jù),現(xiàn)在無(wú)法完成。 3. 用expo進(jìn)行衍射標(biāo)定。 現(xiàn)在問(wèn)題卡在第二步,我不知道用什么calibration standard,程序自帶一些都不對(duì)。以及做這一步的原理是什么,或者說(shuō)為什么要做這一步。我本想自己寫(xiě)程序做,但是發(fā)現(xiàn)沒(méi)有找到pixel size。所以現(xiàn)在一直糾結(jié)。 望懂行的人多多指教,感激不盡。 @lich666 發(fā)自小木蟲(chóng)IOS客戶(hù)端 |

木蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
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首先,fit2d導(dǎo)入后一團(tuán)黑的問(wèn)題,可以通過(guò)調(diào)節(jié)亮度,對(duì)比度都手段解決,畢竟這是一個(gè)比較成熟的軟件了 然后,如果你十分確定測(cè)試過(guò)程中使用的波長(zhǎng)以及探測(cè)器距離,應(yīng)該可以不使用校正 一般在收數(shù)據(jù)之前都會(huì)用標(biāo)樣測(cè)試一個(gè)譜,使用標(biāo)樣就是確保儀器設(shè)定完全正常,不同的地方會(huì)選用的不同的標(biāo)樣,因人而異,比如CeO2, Si, LaB6等等。 你的數(shù)據(jù)在收集之前沒(méi)有測(cè)個(gè)標(biāo)樣test? |
木蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
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多謝回復(fù) 對(duì),是使用的面探,我有使用fit2d處理,但是數(shù)據(jù)讀入后,一個(gè)團(tuán)漆,無(wú)法處理。 我其實(shí)更對(duì)校正更敢興趣,波長(zhǎng)是固定的,距離也是固定的,當(dāng)然可能不是非常精確,但絕對(duì)不會(huì)差很多。包括beam center的位置也是不會(huì)有太大的出入。我的問(wèn)題是,為什么有那么多的校正標(biāo)準(zhǔn),以及我如何選擇這個(gè)校正標(biāo)準(zhǔn)。 誠(chéng)如你所說(shuō),如果僅是校正距離,那么這些校正標(biāo)準(zhǔn)就是差異化的,不是適用所有的情況,那為什么很多時(shí)候他們是直接使用呢?比如從庫(kù)里下載某一個(gè)(當(dāng)然是收費(fèi)的)。 我的目的就是想要弄清楚這其中的原理。短期而言,我能用,長(zhǎng)期而言,我要自己做個(gè)程序。 |

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我嘗試調(diào)節(jié),無(wú)用 我已經(jīng)在尋找標(biāo)樣。我沒(méi)有測(cè)試標(biāo)樣。不過(guò)儀器在安裝的時(shí)候,有測(cè)試。 波長(zhǎng)和距離,技術(shù)員告訴我是不會(huì)變的 如果標(biāo)樣是檢測(cè)儀器是否正常,在儀器正常的情況下,那為什么在后期數(shù)據(jù)處理還要使用校正文件? 另外這些標(biāo)樣是否通用? 是否具有設(shè)備差異性,畢竟有些時(shí)候使用庫(kù)里的校正文件。按照你的說(shuō)話(huà),應(yīng)該是有差異的。 ps : 為了確認(rèn)我們說(shuō)的一個(gè)事,我說(shuō)的標(biāo)樣校正文件,內(nèi)容是hkl指數(shù)和相應(yīng)的面間距。 |

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