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lianqing666金蟲 (小有名氣)
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[求助]
只看HAADF和EDX mapping的FIB-TEM樣品是否需要減薄
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| 我需要用FIB去提取一個樣品放在TEM下面看。但是我不需要TEM投射圖,只需要HAADF和EDX mapping。 HAADF和EDX Mapping是二次電子和x ray,沒必要電子穿透過樣品。 根據(jù)原理我覺得應該是不用減薄。但是不知道是否有人做過類似的。鈣鈦礦電池FIB-TEM 樣品做HAADF 和 EDX mapping。有實驗經(jīng)驗的請給一點建議,謝謝。 |
專家顧問 (文壇精英)
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