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ATK中缺陷對于納米器件的影響到底是什么機(jī)制?
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| ATK計(jì)算納米尺度器件含有缺陷時(shí)候的電流輸運(yùn),一般都是根據(jù)透射譜進(jìn)行解釋的,對于透射譜之下還有沒有更深層次的物理機(jī)制?比如說實(shí)驗(yàn)中竟然觀察到的弱局域化作用,或者強(qiáng)局域化作用,但是對于弱局域化到強(qiáng)局域化會(huì)出現(xiàn)電導(dǎo)隨溫度由對數(shù)型向指數(shù)型轉(zhuǎn)變的過程,而ATK中改變溫度計(jì)算電導(dǎo)基本沒什么變化,那電流的改變本質(zhì)上只來源于結(jié)構(gòu)的改變???有大佬指點(diǎn)一下嗎?感覺不是很明白了。。。 |

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