| 33 | 1/1 | 返回列表 |
| 查看: 3482 | 回復(fù): 32 | ||
| 【獎(jiǎng)勵(lì)】 本帖被評(píng)價(jià)21次,作者erran增加金幣 18.4 個(gè) | ||
[資源]
《X射線粉末衍射實(shí)驗(yàn)技術(shù)基礎(chǔ)》-也搜無(wú)重復(fù)
|
||
|
目錄: 前言 第一章 X 射線衍射基礎(chǔ) 1.1 概述 1.2 X 射線的產(chǎn)生 1.3 X 射線管工作條件的確定 1.4 X 射線光譜 1.4.1 連續(xù)光譜 1.4.2 特征光譜 1.5 物質(zhì)對(duì)X 射線的吸收,實(shí)驗(yàn)波長(zhǎng)及濾波片的選擇 1.5.1 線吸收系數(shù) 1.5.2 質(zhì)量吸收系數(shù) 1.5.3 吸收系數(shù)與波長(zhǎng)及元素的關(guān)系 1.5.4 實(shí)驗(yàn)波長(zhǎng)的選擇 1.5.5 濾波片 1.6 晶體對(duì)X 射線的衍射 1.6.1 衍射幾何方程 1.6.2 多晶X 射線的衍射強(qiáng)度 1.7 X 射線的檢測(cè) 1.7.1 熒光板 1.7.2 照相方法 1.7.3 正比計(jì)數(shù)管 1.7.4 閃爍計(jì)數(shù)管 1.7.5 固體檢測(cè)器 1.7.6 位敏正比計(jì)數(shù)管 1.7.7 成像屏 1.7.8 X 射線電視 1.8 X 射線的防護(hù) 第二章 多晶X 射線衍射儀器 2.1 概述 2.2 兩種衍射幾何 2.2.1 平行光束型 2.2.2 聚焦光束型 2.3 兩類X 射線測(cè)量記錄方法 2.3.1 照相法 2.3.2 衍射儀法 2.4 X 射線源 2.5 幾種常用粉末X 射線衍射實(shí)驗(yàn)技術(shù)的比較 第三章 MSAL 自動(dòng)X 射線衍射儀 3.1 概述 3.2 X 射線發(fā)生器 3.2.1 X 射線管 3.2.2 高壓發(fā)生器及其控制電路 3.2.3 保護(hù)電路 3.3 測(cè)角儀的光路系統(tǒng) 3.4 X 射線強(qiáng)度測(cè)量記錄系統(tǒng) 3.4.1 X 射線檢測(cè)器 3.4.2 脈沖幅度分析器 3.4.3 計(jì)數(shù)率表 3.5 衍射儀控制及衍射數(shù)據(jù)采集分析系統(tǒng) 3.5.1 衍射儀控制操作系統(tǒng) 3.5.2 衍射數(shù)據(jù)處理分析系統(tǒng) 3.5.3 各種X 射線衍射分析應(yīng)用程序(選購(gòu)) 第四章 多晶X 射線衍射儀實(shí)驗(yàn)技術(shù) 4.1 儀器條件的準(zhǔn)備 4.1.1 X 射線光源條件 4.1.2 測(cè)角儀的校正(“對(duì)零”) 4.1.3 X 射線強(qiáng)度測(cè)量記錄系統(tǒng)的調(diào)整 4.2 具體實(shí)驗(yàn)條件的選定 4.2.1 發(fā)散狹縫 4.2.2 接收狹縫 4.2.3 防散射狹縫 4.2.4 掃描方式 4.2.5 長(zhǎng)圖記錄儀記錄條件的選擇 4.2.6 數(shù)字記錄時(shí)采樣條件的選擇 4.3 樣品的制備 4.3.1 對(duì)樣品粉末粒度的要求 4.3.2 關(guān)于樣品試片平面的準(zhǔn)備 4.3.3 關(guān)于樣品試片的厚度 4.3.4 制樣技巧 4.4 原始數(shù)據(jù)的初步處理 4.4.1 圖譜的平滑 4.4.2 背底的扣除和弱峰的辨認(rèn) 4.4.3 峰位的確定 4.4.4 衍射強(qiáng)度I 的測(cè)量 第五章 多晶X 射線衍射儀的實(shí)驗(yàn)誤差 5.1 衍射角測(cè)定中的系統(tǒng)誤差 5.1.1 衍射儀方法的系統(tǒng)誤差 5.1.2 測(cè)角儀測(cè)角的機(jī)械準(zhǔn)確度 5.2 X 射線強(qiáng)度測(cè)量的誤差 5.2.1 計(jì)數(shù)損失及校正 5.2.2 X 射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差 第六章 粉末衍射方法的應(yīng)用 6.1 概述 6.2 物相分析 6.2.1 X 射線衍射方法的依據(jù) 6.2.2 物相定性鑒定 6.2.3 物相定量分析 6.3 晶胞參數(shù)的精確測(cè)定及其應(yīng)用 6.3.1 晶胞參數(shù)的精確測(cè)定 6.3.2 精確晶胞參數(shù)數(shù)據(jù)的應(yīng)用 6.4 衍射線強(qiáng)度分布數(shù)據(jù)(剖面數(shù)據(jù))的應(yīng)用 6.4.1 Scherrer 公式 6.4.2 真實(shí)峰寬的測(cè)定 參考文獻(xiàn) 附錄 附錄1 常用物理常數(shù)和換算公式 附錄2 現(xiàn)代海洋沉積物中常見礦物名稱對(duì)照表 附錄3 X 射線衍射分析用X 射線管的特征波長(zhǎng)及有關(guān)數(shù)據(jù) 附錄4 一些純物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù) Al、Si、α-SiO2、CaCO3(方解石)、Ag、W、CaF2、NaCl、KCl、KBrO3、ZnO、CdO、 α-Al2O3(剛玉)、TiO2(金紅石)、Cr2O3、CeO2 下載地址: http://www.91files.com/?LXCH8HAW50L9S2P58QIT 記得評(píng)價(jià)!!記得給星星啊。。! |
榮譽(yù)版主 (著名寫手)
|
樓主的已損壞,可以在下邊這個(gè)連接下載 http://www.ieecas.cn/XRD/downloa ... %F5%BB%F9%B4%A1.pdf |

















| 33 | 1/1 | 返回列表 |
| 最具人氣熱帖推薦 [查看全部] | 作者 | 回/看 | 最后發(fā)表 | |
|---|---|---|---|---|