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wangyong8532木蟲 (正式寫手)
小哥
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[交流]
【請教】X射線衍射擇優(yōu)取向的標定
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| X射線測定的織構(gòu)(擇優(yōu)取向)應(yīng)如何標定,衍射峰應(yīng)該是面指數(shù),有的文獻說是擇優(yōu)取向,為什么??謝謝 |

金蟲 (正式寫手)
專家顧問 (知名作家)
材料人
![]() |
專家經(jīng)驗: +552 |
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X射線測織構(gòu)的原理是利用X射線掃描多晶材料衍射強度分布,統(tǒng)計出極密度分布;其過程為: 首先,掃描得出譜圖,得出實際的2theta角位置; 然后,根據(jù)2theta角設(shè)定該材料的掃描旋轉(zhuǎn)角; 然后,掃描結(jié)束后得到一套極密度分布數(shù)據(jù),可用極圖表達; 然后,根據(jù)得到的極圖數(shù)據(jù),計算得出取向分布函數(shù)ODF,有的系統(tǒng)也可以算出反極圖及織構(gòu)組分含量; 以上都是實驗員操作的過程,用戶一般不需要了解其過程,更多工作是讀懂極圖、ODF、反極圖等信息,也就是標定織構(gòu)或取向。建議樓主參閱織構(gòu)相關(guān)書籍資料。 另,2樓的說法不妥。XRD譜圖的最高峰與織構(gòu)擇尤沒有直接聯(lián)系,無織構(gòu)粉末樣品也有三強峰的,當然織構(gòu)會影響譜圖中峰的高低,甚至會使得有些2theta角位置的峰消失或增高。 還有,擇尤不等于擇優(yōu),織構(gòu)沒有優(yōu)劣之分。“而視之尤!蹲髠鳌は骞辍。服注: 甚也!保挥, 異也。——《廣雅》 [ Last edited by comma on 2009-9-10 at 00:02 ] |

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