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【分享】SSRF首批光束線和實(shí)驗(yàn)站配置一覽表
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附件一 SSRF首批光束線和實(shí)驗(yàn)站配置一覽表 一、生物大分子晶體學(xué)光束線/實(shí)驗(yàn)站 (BL17U1) 光源類型和參數(shù) 真空室內(nèi)波蕩器,周期長度為2.5cm, 最小磁隙為6mm。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 518 keV 能量分辨 < 2×10-4 樣品處光通量 2×1012phs/s (12keV@200mA) 樣品處光斑尺寸 150×50 m2 (12keV) 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 Mar225 CCD探測器、Mar Dtb 系統(tǒng)、 熒光探測器、樣品低溫冷卻裝置（CryoStream700） 顯微鏡、高性能計算機(jī)。 實(shí)驗(yàn)方法 生物大分子晶體結(jié)構(gòu)測定 多波長反常散射法(MAD) 單波長反常散射法(SAD) High-throughput Macromolecular Crystallography 線站 聯(lián)系人 何建華 電話：021-33933186 Email: hejianhua@sinap.ac.cn 二、X射線衍射光束線/實(shí)驗(yàn)站(BL14B1) 光源類型和參數(shù) 彎鐵，電子能量3.5GeV，束流300mA，磁場強(qiáng)度1.27T，臨界能量10.35keV，水平自然發(fā)射度3.9nmrad。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 4-22keV 能量分辨 2×10-4@10keV 樣品處光通量 2×1011phs/s 樣品處光斑尺寸 (H)0.4mm×(V)0.4mm 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 Huber5021型6圓衍射儀及相關(guān)附件、 NaI閃爍體探測器、電離室、固體熒光探測器。 實(shí)驗(yàn)方法 粉末衍射(XRD) 掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD) 反射率測量(XRR) 倒易空間二維強(qiáng)度分布測量(RSMs) 衍射異常精細(xì)結(jié)構(gòu)(DAFS) 線站 聯(lián)系人 黎忠 電話：021-33933195 Email:lizhong@sinap.ac.cn 三、XAFS 光束線/實(shí)驗(yàn)站(BL14W1) 光源類型和參數(shù) 多極 Wiggler 38 極 1.2 T，周期長度80mm。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 4 ～22.5 keV 能量分辨 2×10-4 Si(111)晶體@10keV 樣品處光通量 ≥2×1012 phs/s (100mA)@10keV 樣品處光斑尺寸 ≤0.5×0.5 mm2 (H×V) 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 32元Ge固體探測器、Oxford 閉氣路譜學(xué)電離室、Lytle熒光電離室、高低溫原位設(shè)備(10K~1000K)、5維樣品平臺。 實(shí)驗(yàn)方法 透射XAFS、熒光XAFS、掠入射XAFS、 時間分辨QXAFS、原位XAFS。 線站 聯(lián)系人 黃宇營 電話：021-33932122 Email:huangyuying@sinap.ac.cn 四、硬X射線微聚焦光束線/實(shí)驗(yàn)站(BL15U1) 光源類型和參數(shù) 真空室內(nèi)波蕩器，周期數(shù)80，長度2m。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 5-20 keV 能量分辨 E/E~2×10-4 樣品處光通量 ~6×1010phs/s @ 10keV，200mA 樣品處光斑尺寸 ≤3m 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 探測器：7元Si(Li)探測器，硅漂移探測器，成像用X射線CCD，電離室。樣品臺：7軸高精度電動掃描臺，2維壓電陶瓷掃描臺。其他：樣品對光顯微鏡，調(diào)光X-CCD。 實(shí)驗(yàn)方法 微束X射線熒光分析(-XRF)：探測樣品中微區(qū)元素含量和分布,2維，3維。 微束近邊X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)( -XANES)：特定元素的在樣品中的化學(xué)種態(tài)。 微束X射線衍射、散射 (需要借用X射線面探測器)表面分析實(shí)驗(yàn)方法、X射線成像。 線站 聯(lián)系人 余笑寒 電話：021-33933188 Email:yuxiaohan@sinap.ac.cn 五、X射線成像及生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用光束線/實(shí)驗(yàn)站(BL13W1) 光源類型和參數(shù) 多極Wiggler ， 1.944T/16poles/14cm。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 10-60keV 能量分辨 ≤5×10-3 樣品處光通量 1×109 phs/s/mm2@20keV 樣品處光斑尺寸 45mm(H)×5mm(V) @30m@20keV 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 精密隔振平臺、高分辨X射線CCD、多維樣品臺、精密導(dǎo)軌、電離室、快門、斬波器等。 實(shí)驗(yàn)方法 同軸相襯成像（IL-PCI） 顯微CT（MCT） 衍射增強(qiáng)（DEI）等 線站 聯(lián)系人 肖體喬 電話：021-33933197 Email:xiaotiqiao@sinap.ac.cn 六、軟X射線譜學(xué)顯微光束線/實(shí)驗(yàn)站(BL08U1 A) 光源類型和參數(shù) 橢圓極化波蕩器 EPU100，周期長度100mm，4.2米。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 250 - 2000 eV 能量分辨 3000@410eV, 1500@1840eV 樣品處光通量 ≥108 (phs/s)@ 410 eV ≥107 (phs/s)@ 1840 eV 樣品處光斑尺寸 ≤150nm 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 主體STXM顯微鏡一臺 快速正比計數(shù)管、光電二極管 濕樣品槽二個（供濕樣品用） 工作站一臺 分析軟件：NEXAFS分析軟件、元素成分分析軟件、三維圖像分析。 光學(xué)顯微鏡 實(shí)驗(yàn)方法 透射軟X射線近邊吸收譜分析（NEXAFS譜）、 光譜顯微分析—空間、能量三維（x,y,E）掃描 形態(tài)三維顯微成像—空間三維（x,y,）掃描。 線站 聯(lián)系人 邰仁忠 電話：021-33933187 Email:tairenzhong @sinap.ac.cn 七、小角散射光束線/實(shí)驗(yàn)站 (BL16B1) 光源類型和參數(shù) 彎鐵光源，電子能量3.5GeV； 自然水平發(fā)射度3.9nm.rad；流強(qiáng)300mA； 磁場強(qiáng)度1.27T。 樣品處同步輻射光特性 能量范圍 5-20keV 能量分辨 ≤6.0×10-4@10keV 樣品處光通量 ≥3×1011phs/s@200mA 樣品處光斑尺寸 0.4×0.5mm @10keV 實(shí)驗(yàn)站 實(shí)驗(yàn)站設(shè)備 一維廣角氣體探測器、一維小角氣體探測器、成像板探測器、單色光狹縫、電離室系統(tǒng)、掠入射小角散射樣品臺、真空管道及支架系統(tǒng)等。 實(shí)驗(yàn)方法 小角散射 同時廣角和小角散射 掠入射小角散射 反常小角散射 線站 聯(lián)系人 王 劼 電話：021-33932395 Email:wangjie@sinap.ac.cn |
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