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高興星期五鐵桿木蟲 (著名寫手)
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[交流]
幾個測試方法方面的問題
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測試方法 1. 什么是倒易點陣? 2. 簡述X射線衍射和布拉格定律。證明為什么晶體對稱沒有五次軸?什么是XRD峰值半高寬(FWHM ) ? 半高寬(FWHM ) 反映了晶體中的那些信息? 3. 簡述差熱分析的測試方法,分析影響差熱曲線形態(tài)的因素有哪些? 4. 透射電鏡(TEM)常用的樣品有哪些?通過什么方法制備這些樣品?通過透射電鏡能獲得材料中的那些結(jié)構(gòu)信息/ 5. 什么是SEM的背散射電子像,什么事二次電子像,各有什么特點。 6. 電子探針在冶金方面有哪些應(yīng)用。 7. 什么事熱重分析?簡述其在貯氫材料中的應(yīng)用。 謝謝,了解哪個就回到哪個吧。謝謝各位啦 |

木蟲 (著名寫手)
木蟲 (正式寫手)
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設(shè)入射線與反射面之夾角為,稱掠射角或布拉格角,則按反射定律,反射線與反射面之夾角也應(yīng)為。 布拉格實驗得到了“選擇反射”的結(jié)果,即當(dāng)X射線以某些角度入射時,記錄到反射線(以Cu K射線照射NaCl表面,當(dāng)=15和=32時記錄到反射線);其它角度入射,則無反射 布拉格方程的導(dǎo)出基礎(chǔ): ①晶體結(jié)構(gòu)具有周期性(可將晶體視為由許多相互平行且晶面間距(d)相等的原子面組成); ②X射線具有穿透性,可照射到晶體的各個原子面上; ③光源及記錄裝置至樣品的距離比d數(shù)量級大得多,故入射線與反射線均可視為平行光。 入射的平行光照射到晶體中各平行原子面上,各原子面各自產(chǎn)生的相互平行的反射線之間的干涉作用導(dǎo)致了“選擇反射”的結(jié)果,據(jù)此導(dǎo)出了布拉格方程。 設(shè)一束平行的X射線(波長)以 角照射到晶體中晶面指數(shù)為(hkl)的各原子面上,各原子面產(chǎn)生反射。 任選兩相鄰面(A1與A2),反射線光程差=ML+LN=2dsin ;干涉一致加強(qiáng)的條件為=n,即2dsin=n 式中:n——任意整數(shù),稱反射級數(shù),d為(hkl)晶面間距 |
木蟲 (著名寫手)
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今天的透射電子顯微鏡(TEM)不僅是一臺放大倍數(shù)可達(dá)100萬倍以上,可以直接分辨小到一兩個埃的單個原子的顯微鏡,并且還能進(jìn)行納米尺度的晶體結(jié)構(gòu)及化學(xué)組成分析,成為全面評價固體微觀結(jié)構(gòu)的綜合性儀器. TEM制樣方法 (1)金屬載網(wǎng)和支持膜 在光學(xué)顯微鏡下研究各種對象時,試樣是放置在玻璃載玻片上.但在電鏡下,由于電子束的穿透能力很弱,不能采用玻璃片作為支持物,而是采用一種很簿的電子透明的薄膜附著在金屬網(wǎng)上作為支持膜. 常用的金屬載網(wǎng)是直徑為3 mm的銅網(wǎng).其網(wǎng)孔的樣式隨制作方法和所觀察的試樣不同而有差異.對超薄切片試樣,多用每英寸200目的載網(wǎng),以保證70%以上的電子光束通過.對粉末樣品一般以網(wǎng)孔小為宜,可增加支持膜的牢固性。 支持膜應(yīng)當(dāng)易被電子穿透,有足夠的機(jī)械強(qiáng)度,耐電子束轟擊,并具有化學(xué)穩(wěn)定性.由于任何材料制成的膜都或多或少會造成某種程度的電子散射而降低試樣的反差和結(jié)構(gòu)分辨率,因此,支持膜不應(yīng)太厚,一般在200Å以下為宜.對較厚的試片,有時也可不用支持膜,將試片直接故在金屬載網(wǎng)上觀察 2) 高聚物薄膜的制備方法 由高分子試樣0.1%一0.5%的稀溶液在水面或甘油表面制成薄膜,或直接滴在帶有支持膜的銅網(wǎng)上,待溶劑揮發(fā)后,即可得到適于觀察的試片。對于不能溶解或不宜溶解的粉末試樣,可制成懸浮液,再滴膜. |
木蟲 (著名寫手)
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