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[交流]
【求助】用XRD如何測塊狀金屬樣品有沒有擇優(yōu)取向呢? 已有5人參與
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最好能把原理簡單介紹一下,多謝各位大俠 另外,順便問一下,這個和EBSD做出來的取向一樣嗎? [ Last edited by 大友 on 2010-6-28 at 10:07 ] |
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你問的原理是XRD衍射的還是樣品處理的?XRD衍射的就是Bragg衍射的道理,根據(jù)衍射的2theta角測定某晶體學面的衍射極密度,根據(jù)該數(shù)據(jù)換算成極圖數(shù)據(jù),然后根據(jù)若干極圖數(shù)據(jù)換算取向分布函數(shù)ODF。若是僅簡單了解有無織構,測兩個極圖就夠了。 如果是樣品處理就很簡單了,一般要求樣品厚在5mm以下,具體要問操作員,不同廠家的儀器略有差異。待測表面尺寸不能過小,太小沒有統(tǒng)計性。布魯克的衍射儀標樣尺寸為24*14mm,太大也沒有意義,因為掃描的面積就這么大,而且樣品臺也放不進去。 和EBSD比較起來,XRD具有更好的統(tǒng)計性,EBSD一般都只作為微區(qū)分析,只要EBSD區(qū)域足夠大,結果當然和XRD一樣。只要你愿意花銀子,EBSD也可以做巨大的掃描區(qū)域。此外XRD只能得到你的樣品織構,卻難以知道織構的分布,EBSD具有對應具體的微觀組織的取向統(tǒng)計。 [ Last edited by comma on 2010-6-28 at 10:30 ] |

銅蟲 (正式寫手)
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