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小螞蟻1980木蟲 (著名寫手)
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[交流]
【請教】怎樣在透射電鏡下拍到漂亮的二維晶格圖像 已有1人參與
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最近在學習使用高分辨透射電鏡Tecnai F20,現(xiàn)有兩個問題向各位大俠請教: 1、我在測試SiC納米線(111晶面間距為0.25nm)的時候,很多時候在高分辨下得到的是一維條紋結構(即只有一個方向的條紋),今天下午卻偶然之間得到了非常漂亮的二維晶格結構圖像(即可以看到單個原子的排列),我再去觀察別的納米線卻得不到了。以前記得有本書上說只有在入射電子束與樣品晶格結構呈特定 的位相關系情況下,就可以得到清晰的二維晶格條紋。我想請問各位老師,該怎么去調節(jié)儀器或樣品以得到漂亮的二維晶格結構圖像呢? 2、在測樣品電子衍射圖譜的時候,先在TEM模式下找到目標區(qū),然后套光闌點衍射模式,進行選區(qū)衍射拍攝。但這樣做得到的圖譜往往很不好看,得到的衍射斑點很雜亂,我通過調整相機常數(shù)是無法解決的,請問各位老師這種情況該怎么辦?似乎是要調整樣品的角度,但具體要怎么操作呢? |
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