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knightshui木蟲 (小有名氣)
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[交流]
【求助】多晶硅的反射譜或吸收譜,及其機理解釋 已有4人參與
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光伏文集 |

木蟲 (小有名氣)
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木蟲 (小有名氣)

鐵桿木蟲 (正式寫手)
硅材料研發(fā)人員
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首先,我覺得用機理解釋這個詞可能不大合適。這個東西是非常成熟的理論(半導體、凝聚態(tài)物理)和光譜技術(IR,PL)的結合,是已經(jīng)有定論的東西了。一般說機理解釋,好像大多用來說新的,還存在爭議的現(xiàn)象等等。呵呵,只是感覺,樓主勿怪。 言歸正傳,說說我的一點認識: 1.入射光照射到多晶硅上,一部分光被反射,一部分光透過,還有一部分光被吸收,三者的和是光的總強度1.一般是短波的光(光子能量大于Eg)很容易被反射,能量小于Eg的光的一部分被多晶硅中的雜質和晶格吸收,剩下的一部分透過。 2.(單晶)硅中最重要的就是對電學性能有作用的淺雜質(P/B/AS.....),這些雜質占據(jù)了很少一部分硅的格點位置,和硅形成共價鍵。根據(jù)不同的雜質分為N和P型。以N型磷摻雜的樣品為例,室溫下,由于晶格熱振動,束縛在磷原子上的電子通過晶格振動獲得一定能量,得以脫離這個束縛,即電離。脫離束縛的電子就進入導帶,參與導電。如果在極低溫下(<15K),可忽略雜質電離,如果樣品補償也忽略,那么這時候得到的紅外吸收光譜的光源提供的光的能量就用來激發(fā)這些未電離的原子態(tài)雜質,檢測器得到的光強可以換算為透過率,進而轉換為吸收光譜,光譜反應了雜質態(tài)束縛電子的激發(fā)和馳豫信息。吸收峰的位置(波數(shù))可以拿來定性,而峰高(峰面積)則可以拿來定量。具體過程還要復雜,這里不太好說清楚,建議看看半導體物理書和紅外光譜原理的書。一般測碳和氧就用常溫紅外光譜,而三五族雜質就需要低溫光譜技術如LT-FTIR、LT-PL。 3.2所述一般適用于單晶硅,但是多晶硅在某些情況下也使用。即晶粒尺寸足夠大,晶界較少,對少數(shù)載流子的壽命影響很小的情況下適用。當然,單晶多晶畢竟有差異,可能在峰位和峰形上會有些差別,但大體上是差不多的。 4.看樓主專業(yè)是太陽電池。在太陽電池領域,反射譜一般用于表征減反射層的減反射效果。即為了得到最佳的反射層,使反射竟可能低,這樣吸收得就多,更多的光就被利用,從而提升光電轉換效率。 寫得有點亂,也比較通俗,如果哪里不嚴謹?shù)脑,還請高手幫忙指出,以免誤導他人。 [ Last edited by SCU_magiclee on 2010-11-7 at 10:54 ] |

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