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【求助】X射線光電子能譜分析(XPS)和X射線能量色散分析譜儀(EDS)有什么區(qū)別和聯(lián)系
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| 如題 |
材料制備工藝與表征 | EDS 問題 |
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二者的原理不同,XPS是分析X射線照射樣品激發(fā)的光電子的能量;EDS是分析電子束照射到樣品后激發(fā)的特征X射線。 從使用的角度: XPS是表面分析手段,分析深度在幾個納米,廣度很寬,在幾十到幾百微米(X射線聚焦困難)。 EDS是表面微區(qū)分析手段,其分析范圍的深度和廣度與加速電壓和被分析材料種類有關。對于掃描電鏡(SEM)配備的EDS,其分析的深度和廣度范圍至少在亞微米級別(空間分辨率除了與電子束斑大小有關,還與特征X射線的激發(fā)范圍有關)。 透射電鏡(TEM)配備的EDS,其分析范圍很小,分析區(qū)域的大小可接近電子束斑的大小,分析幾十個nm大小的區(qū)域。若用場發(fā)射槍(FEG),電子束斑只有1 nm左右,在FEG-TEM上用EDS,最小可分析幾nm范圍。 |
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