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【求助】微波介電性能與介電性能的主要區(qū)別是什么?
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| 微波介電性能與介電性能的主要區(qū)別是什么?現(xiàn)在想查閱關(guān)于氧化鋁陶瓷介電性能(如介電強(qiáng)度,體積電阻率等因素)方面的文獻(xiàn),結(jié)果查到的都是微波介電性能的東西。。。。。機(jī)械品質(zhì)因數(shù)與頻率的乘積(Q×f),相對介電常數(shù)(εr),諧振頻率溫度系數(shù)(τf)等有關(guān)的,他們之間有怎樣的聯(lián)系?希望內(nèi)行的高手給予指導(dǎo)。 |
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通常說的介電頻譜,僅是低頻下測的,比如 幾十KHz 至 幾個(gè)MHz,因?yàn)檫@個(gè)頻段范圍內(nèi)可以考察到許多極化機(jī)構(gòu),如空間電荷、固有電矩、離子位移極化等等,這些信息是從介電常數(shù)、損耗正切隨頻率的變化得到的。這個(gè)介電頻譜用電橋方法即可測量,可測得頻率連續(xù)變化的譜圖。 而微波介電性能,通常是為了考慮其應(yīng)用到微波器件(如諧振器),需在微波頻段測量,高達(dá)幾百M(fèi)Hz至數(shù)GHz,此時(shí)電橋方法就不行了,而需采用諸如 諧振腔 法等手段。這些微波測量手段只能測量諧振頻率處的介電常數(shù)、損耗正切(即Q值倒數(shù)),而諧振頻率與樣品的介電常數(shù)、物理尺寸有關(guān),因此每個(gè)樣品只能測一個(gè)頻點(diǎn),若需測數(shù)個(gè)頻點(diǎn)就需準(zhǔn)備多個(gè)不同尺寸的樣品了。 在微波頻段,低頻下的極化機(jī)構(gòu)統(tǒng)統(tǒng)不起作用,所以此時(shí)的介電常數(shù)較穩(wěn)定,但損耗仍會(huì)有較大變化,因此你看到文獻(xiàn)上給出的QXf,就是要告訴這個(gè)Q值是在哪個(gè)微波頻點(diǎn)下測的。微波介質(zhì)材料另一個(gè)重要指標(biāo),是溫度系數(shù),即在一定溫度范圍內(nèi),諧振頻率的變化。 [ Last edited by r9arrow on 2011-5-13 at 10:42 ] |
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諧振腔法的理解要依靠微波、電磁場方面的知識了,推薦你參考一本微波介質(zhì)材料方面的大作,MT Sebastian 的 Dielectric Materials for Wireless Communication,2008年出版,里面主要講的是目前實(shí)用的微波陶瓷的各種體系,也有關(guān)于微波介電性能測試的。 我所講的諧振腔法,也叫 Hakki-Coleman方法,參見這本書的 2.3.1節(jié) 這本書的地址:http://ishare.iask.sina.com.cn/f/6309649.html |
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