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[求助]
求問如何用FTIR測玻璃基底上的薄膜
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| 在玻璃基底上制備了一層幾百納米厚的薄膜,想用紅外測一下其中的Si-O峰。想知道具體怎么測?之前只測過塊體硅的傅里葉紅外,用相同的方法測載玻片基底卻測不出Si-O鍵峰,而測長了膜的載玻片時,用MIR-XPM測出非常多的雜峰,基本無法識別。求問測這種薄膜具體該怎么測?用什么頻率的光源比較好?謝謝 |
基片薄膜的表征 | qqz 10 |
金蟲 (小有名氣)

木蟲 (正式寫手)
騷客

鐵桿木蟲 (著名寫手)
| 不太明白你的意思。你是想測你的薄膜中的Si-O鍵呢?還是想測你的玻璃基體中的Si-O鍵?如果是前者,不建議使用玻璃基體,因?yàn)椴Aе械腟i-O很強(qiáng),絕對會覆蓋你的薄膜中的Si-O鍵的峰。尤其是透射的話。如果實(shí)在想測的話,那就測量一個玻璃基體的紅外,然后再測量一個覆蓋薄膜的樣品的紅外,然后二者相除或者相減。取決于你測的是吸收還是透射光譜。不過, 最好還是使用反射。這個是紅外光譜儀中的附件,不知道你們的儀器上面配備了沒有。 |
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