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huxin_526銀蟲 (小有名氣)
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[求助]
SEM測試問題
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| 我現(xiàn)在培養(yǎng)了一種晶體,想通過SEM觀察它的結(jié)構(gòu),但經(jīng)過SEM的前處理后,晶體都裂開了,由完整的片狀變成了一些小碎片,而導(dǎo)致無法觀察。后來發(fā)現(xiàn)這種晶體的DSC分析圖在六十度會有一吸熱峰,就是說在60℃可能會有結(jié)構(gòu)變化,但小于六十度,SEM的前處理又會有問題。請大家?guī)臀蚁胂,怎樣處理才能得到它的微觀結(jié)構(gòu)?難道小于六十度處理,SEM圖像可以也進(jìn)行嗎? |
科研、投稿中可能遇到的小問題 |
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SEM前處理只有在噴金和噴碳的時(shí)候,樣品表面可能需要經(jīng)受超過100攝氏度的高溫。 當(dāng)前有多種方法能夠避免樣品熱損傷問題: 1、采用低真空或者環(huán)境真空模式來觀察非導(dǎo)電樣品。低真空會散射入射電子,降低圖像信噪比,進(jìn)而影響分辨能力。 2、以采用低電壓,大角度傾斜樣品來可以免噴金或者蒸鍍導(dǎo)電膜,但低電壓會降低電子光學(xué)分辨能力。 3、采用冷陰極磁控濺射,可以實(shí)現(xiàn)常溫濺射金屬膜。可以獲得良好分辨。 采用什么方法,關(guān)鍵看分辨率要求! |
銀蟲 (小有名氣)
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