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金屬TEM電鏡,如何消除或降低干涉條紋?-優(yōu)秀答案有獎勵。
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現(xiàn)在做金屬的透射,晶粒內(nèi)部有寫位錯結(jié)構(gòu)和析出的小粒子。但是干涉條紋很重,導(dǎo)致找出來的電鏡照片效果很差。尤其是1um以下的粒子,內(nèi)部基本看不出具體的情況來。試著轉(zhuǎn)了一下帶軸(本人不是很專業(yè),就是轉(zhuǎn)到了一些菊池線密集的交點),得到的明場像中,粒子基本就全黑了。周圍很白。仍然看不清楚。不知道有沒有更好地辦法,或者我的帶軸轉(zhuǎn)得不對,應(yīng)該轉(zhuǎn)到特定的方向上。 PS:我做的是六方結(jié)構(gòu)的Zr金屬。 [ Last edited by ysuren on 2011-10-13 at 10:43 ] |
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| 有些樣品的干涉條紋是很嚴(yán)重的,有時候是樣品制備的問題,有時候是樣品本身的問題。如果只是拍地被的照片,沒有必要轉(zhuǎn)到菊池線密集的交點,只需要通過踩X或Y軸把消光條紋移處觀察區(qū)域即可,需要耐心的調(diào)試。如果要拍高分辨圖片,那就要轉(zhuǎn)倒菊池線密集的交點,一旦轉(zhuǎn)到菊池線密集的交點,觀察區(qū)域的樣品就會變黑。所以拍形貌像的時候不建議轉(zhuǎn)到菊池線密集的交點。 |
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