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tanex新蟲(chóng) (初入文壇)
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50677014 摘要求助
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謝謝,版主。 |
榮譽(yù)版主 (知名作家)
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摘要:開(kāi)關(guān)電流電路測(cè)試與故障診斷是現(xiàn)代電路理論國(guó)際學(xué)術(shù)前沿和難點(diǎn)。本課題將深入研究開(kāi)關(guān)電流電路測(cè)試與故障診斷理論與方法,探索性地研究面向深亞微米VLSI CMOS數(shù)字集成電路工藝開(kāi)關(guān)電流電路軟故障測(cè)試與診斷理論與方法,提出開(kāi)關(guān)電流測(cè)試矢量快速生成理論與方法,提出新的開(kāi)關(guān)電流故障模擬與響應(yīng)分析理論與方法以及開(kāi)關(guān)電流電路可測(cè)試性設(shè)計(jì)理論與方法,研發(fā)出具自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的開(kāi)關(guān)電流模擬取樣信號(hào)處理電路系統(tǒng)可測(cè)試性設(shè)計(jì)與分析軟件。所提出的新的開(kāi)關(guān)電流測(cè)試與故障診斷理論與方法,特別是面向深亞微米CMOS工藝開(kāi)關(guān)電流電路測(cè)試與診斷理論與方法,將滿足開(kāi)關(guān)電流電路對(duì)測(cè)試的急迫需要,并可拓廣到開(kāi)關(guān)電容模擬取樣數(shù)據(jù)信號(hào)處理電路、混合信號(hào)系統(tǒng)和芯片集成系統(tǒng)(SOC)測(cè)試與診斷。研究成果對(duì)于模擬取樣數(shù)據(jù)信號(hào)處理電路、模擬電路、模數(shù)混合電路和芯片集成系統(tǒng)(SOC)的正確與高效的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)有極其重要的意義。 開(kāi)關(guān)電流電路軟故障測(cè)試與診斷理論及關(guān)鍵技術(shù) 負(fù)責(zé)人:何怡剛 參與人:何怡剛, 謝宏, 黃清秀, 郭杰榮, 朱彥卿, 楊洲, 黃俊, 劉美容 金額:30萬(wàn) 申請(qǐng)時(shí)間:2006 學(xué)科代碼:電網(wǎng)絡(luò)理論(E070102) 項(xiàng)目批準(zhǔn)號(hào):50677014 申請(qǐng)單位:湖南大學(xué) 研究類(lèi)型:基礎(chǔ)研究 關(guān)鍵詞:開(kāi)關(guān)電流電路;模擬電路;測(cè)試與故障診斷; |
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