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90407008/F040206摘要求助
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謝謝,小木蟲。 |
新蟲
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摘要:隨著集成電路設計嵌入多芯核的系統(tǒng)芯片SoC發(fā)展,測試SoC芯片面臨許多挑戰(zhàn),即系統(tǒng)復雜性和測試數(shù)據(jù)量的增加,內(nèi)部塊的不可進入性.為了解決SoC難以測試問題,本項目開展對SoC的可測試性設計研究,采用外建自測試技術(BOST),優(yōu)化芯片內(nèi)外之間的測試源劃分,將"測試與生成"測試方法中的測試數(shù)據(jù)存儲部分分離到SoC芯片之外,芯片中僅僅保留一個測試模式生成狀態(tài)機,減少測試器在芯片上的硬件開銷。對測試數(shù)據(jù)存儲部分,研究各種編碼技術以及嵌入確定測試模式于時序狀態(tài)機的方法,實現(xiàn)多芯核的測試模式統(tǒng)一壓縮優(yōu)化、并行測試、共享外部測試數(shù)據(jù)存儲源,以便達到減少ATE與SoC之間的總體數(shù)據(jù)傳輸量和傳輸通道數(shù),生成一個簡單的通訊協(xié)議,從而降低ATE設備成本,同時也為開發(fā)有效的SoC測試方法提供充分的科學依據(jù),對我國國民經(jīng)濟和現(xiàn)代化國防建設具有重要意義。 系統(tǒng)芯片SoC外建自測試方法研究 負責人:梁華國 金額:27萬 申請時間:2004 學科代碼:系統(tǒng)芯片SoC的驗證與測試理論(F040206) 項目批準號:90407008 申請單位:合肥工業(yè)大學 研究類型:應用基礎研究 |
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