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yanmingsun18銅蟲 (小有名氣)
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[求助]
關(guān)于ODF截面圖的問題,請高手幫忙解答 已有1人參與
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請教兩個問題:1、恒ψ-ODF截面圖和恒φ-ODF截面圖各適合什么情況?還是無論哪種截面圖都可以分析出材料存在的所有織構(gòu) 2、看許多ODF圖分析,有的是用Bange,有的是用Roe。雖然兩者實質(zhì)并無區(qū)別,但是目前大家為何用buange較多,有何說法? |
專家顧問 (知名作家)
材料人
![]() |
專家經(jīng)驗: +552 |
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截面圖是有一些考慮的,一般晶體的織構(gòu)分布具有取向線特征,即分布于一些特殊的取向帶,因此截面圖與其有密切關(guān)系,原則是在適當(dāng)?shù)慕孛嫔媳M可能多的顯示出樣品中存在的織構(gòu)組分,并且該截面圖是大家都比較習(xí)慣觀察的角度,如0、30、50、55、60、65、90°等,材料中織構(gòu)組分出現(xiàn)多的時候會用到兩到三個截面圖。 Bunger法和Roe法其實差別不大,對于用戶來講只是使用習(xí)慣上的差別,Bunger法被廣泛應(yīng)用應(yīng)該與歷史發(fā)展有關(guān),大家都用一種表達(dá)法容易交流,畢竟織構(gòu)是需要很好的晶體學(xué)知識基礎(chǔ)以及一定程度的空間想象...... |

銅蟲 (小有名氣)
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