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如何用TEM方法表征玻璃片上生長(zhǎng)的100nm左右厚度的介孔硅薄膜 已有2人參與
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| 最近參考文獻(xiàn),在ITO玻璃上生長(zhǎng)一層100nm左右厚度的介孔硅薄膜。但是不知道怎么用TEM進(jìn)行表征?文獻(xiàn)上給的方法是直接機(jī)械刮下來(lái)然后弄到銅網(wǎng)上。請(qǐng)問(wèn)該如何刮,或者有其它好的方法沒(méi)?謝謝大家了,最近被這問(wèn)題困擾很久了。 |
二氧化硅 | 薄膜制備與特性 |

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