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in situ TEM,thickness effect 討論求教 已有1人參與
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各位蟲(chóng)子好, TEM樣品用于觀察現(xiàn)象的薄區(qū)厚度一般在100nm以下。 對(duì)于原位實(shí)驗(yàn)(in situ TEM),所觀察的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象,受不受 thickness effect(表面能,電子束方向的厚度約束等)影響? 換言之,TEM中得到的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象與大塊試樣的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象是否一致? 例如,in situ TEM中界面遷移行為與塊體樣品中界面行為的對(duì)比:in situ TEM中界面是否收到樣品表面的影響。 PS. 課題不是討論thickness effect對(duì)TEM觀察現(xiàn)象的影響;現(xiàn)在題主做了一個(gè)in situ TEM的加熱實(shí)驗(yàn),未雨綢繆,怕審稿人問(wèn)thickness effect這個(gè)問(wèn)題。 當(dāng)然不同的現(xiàn)象,thickness effect可能影響不一樣,希望大家附上參考文獻(xiàn)。 |
磁約束聚變材料相關(guān) |
專(zhuān)家顧問(wèn) (知名作家)
P-M-I之初生牛犢
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樓主的問(wèn)題我想問(wèn)很久了,不過(guò)一直沒(méi)有做TEM所以不知如何描述問(wèn)題。 我想做的一組實(shí)驗(yàn)測(cè)金屬材料在輻照前后的TEM。目前有兩種方案,一種就是先制備TEM樣品再去輻照,然后對(duì)比輻照前后的TEM圖;另外一種就是先輻照,然后再制備TEM樣,跟未輻照的作對(duì)比。就是因?yàn)榭紤]到thickness effect在輻照過(guò)程中會(huì)影響材料屬性,所以一直不知道該采用哪種方案。 順便也搭車(chē)問(wèn)個(gè)問(wèn)題:thickness effect與free surface effect (不光是表面能,還有應(yīng)力應(yīng)變曲線的變化)一般都是同時(shí)出現(xiàn)的吧?有沒(méi)有大俠有應(yīng)力應(yīng)變曲線的thickness effect相關(guān)文獻(xiàn)啊?! |

木蟲(chóng) (小有名氣)
| ??in-situ TEM?? ??e??in-situ HRTEM???????????????о?size-dependent??F?????thickness??diameter??surface energy???????c??????P???????????Y?????????c?h???к????P?S??????????????????С?????x???????l??????????????????????????????l?????С??????????????Y?????????l?????Y??????????????l?????paper??Y???δ??????F??????????????????????????l????????100%?????O?????r??????????y??N?Y?????????????????????_???? |
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