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awd51376296金蟲 (正式寫手)
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[求助]
求助啊,我最近要做紅外,遇到了一個問題,求大神來啊,, 已有2人參與
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我要表征一個一面處理過的透明的薄膜,不知道怎么測,,紅外有ATR模式,但是測不出來,,,求助,,看到的文獻上是這么說的, Infrared (IR) spectra were collected using a Fourier transform infrared spectrometer (FTIR-8400, Shimadzu Corporation, Kyoto, Japan) in ATR mode with a germanium crystal with an incidence angle of 45°. 這個應(yīng)該怎么做呢,,,,,謝謝 |
金蟲 (正式寫手)
專家顧問 (著名寫手)
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專家經(jīng)驗: +31 |
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從操作的角度,需要的只是ATR衰減全反射附件,附件及其原理本身就是要求有折光率高的包括鍺晶體的在內(nèi)的晶體的,所以,文獻的這句話基本上等于廢話。只不過把常用的操作條件說得具體點而已。 從測試和表征目的的角度,ATR通常只能測樣品表面很薄的一層,看你要表征的是什么成分和哪些基團。 不同方法都有自己的局限性。比如,ATR雖然使用起來無須特殊的制樣,使用方便,但是,它對有機高分子材料中少量的端OH羥基之類基團極其不靈敏,不適合于通過這類基團對樣品的表征。 |

金蟲 (正式寫手)
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