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awd51376296金蟲 (正式寫手)
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[求助]
求助啊,我最近要做紅外,遇到了一個問題,求大神來啊,, 已有2人參與
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我要表征一個一面處理過的透明的薄膜,不知道怎么測,,紅外有ATR模式,但是測不出來,,,求助,,看到的文獻上是這么說的, Infrared (IR) spectra were collected using a Fourier transform infrared spectrometer (FTIR-8400, Shimadzu Corporation, Kyoto, Japan) in ATR mode with a germanium crystal with an incidence angle of 45°. 這個應該怎么做呢,,,,,謝謝 |
金蟲 (正式寫手)
專家顧問 (著名寫手)
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專家經(jīng)驗: +31 |
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從操作的角度,需要的只是ATR衰減全反射附件,附件及其原理本身就是要求有折光率高的包括鍺晶體的在內的晶體的,所以,文獻的這句話基本上等于廢話。只不過把常用的操作條件說得具體點而已。 從測試和表征目的的角度,ATR通常只能測樣品表面很薄的一層,看你要表征的是什么成分和哪些基團。 不同方法都有自己的局限性。比如,ATR雖然使用起來無須特殊的制樣,使用方便,但是,它對有機高分子材料中少量的端OH羥基之類基團極其不靈敏,不適合于通過這類基團對樣品的表征。 |

金蟲 (正式寫手)
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