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[交流]
【求助】FET測試 氧化硅絕緣層漏電 已有7人參與
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這段時(shí)間做FET device,要做低溫。但是發(fā)現(xiàn)氧化硅絕緣層居然漏電。不知道是怎么回事。不知道有經(jīng)驗(yàn)的兄弟能否給指點(diǎn)下。 我用的是300nmSiO2/500um Si. Pt電極。標(biāo)準(zhǔn)的電子束曝光過程。 PMMA-曝光-顯影-鍍電極 多謝各位了。 |
硬貨 |


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你從什么地方買的氧化硅片子,正常情況下是不應(yīng)該出現(xiàn)這樣的問題的,通常熱氧化過程是比較簡單可靠的,要不然IC也不會(huì)得到這么大范圍的應(yīng)用。 看一下氧化硅片子的顏色,如果是深藍(lán)色,比較均勻的話,基本上可以排除是氧化硅的問題。 有多個(gè)器件的話,換個(gè)器件試試。 不過個(gè)人覺得最好考察一下測量過程和儀器搭接方式,熱氧化的氧化硅不會(huì)這么容易出問題的,特別是這種標(biāo)準(zhǔn)厚度。 低溫探針臺(tái)里面探針連接要特別小心。 |


至尊木蟲 (著名寫手)
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