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高興星期五鐵桿木蟲 (著名寫手)
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幾個(gè)測(cè)試方法方面的問題
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測(cè)試方法 1. 什么是倒易點(diǎn)陣？ 2. 簡述X射線衍射和布拉格定律。證明為什么晶體對(duì)稱沒有五次軸？什么是XRD峰值半高寬(FWHM ) ? 半高寬(FWHM ) 反映了晶體中的那些信息? 3. 簡述差熱分析的測(cè)試方法，分析影響差熱曲線形態(tài)的因素有哪些？ 4. 透射電鏡（TEM）常用的樣品有哪些？通過什么方法制備這些樣品？通過透射電鏡能獲得材料中的那些結(jié)構(gòu)信息/ 5. 什么是SEM的背散射電子像，什么事二次電子像，各有什么特點(diǎn)。 6. 電子探針在冶金方面有哪些應(yīng)用。 7. 什么事熱重分析？簡述其在貯氫材料中的應(yīng)用。 謝謝，了解哪個(gè)就回到哪個(gè)吧。謝謝各位啦 |
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zncyet
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9樓2010-05-02 11:05:40
meng851124
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高興星期五(金幣+10, 博學(xué)EPI+1):謝謝 2010-05-03 12:54
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設(shè)入射線與反射面之夾角為，稱掠射角或布拉格角，則按反射定律，反射線與反射面之夾角也應(yīng)為。 布拉格實(shí)驗(yàn)得到了“選擇反射”的結(jié)果，即當(dāng)X射線以某些角度入射時(shí)，記錄到反射線（以Cu K射線照射NaCl表面，當(dāng)=15和=32時(shí)記錄到反射線）；其它角度入射，則無反射 布拉格方程的導(dǎo)出基礎(chǔ)： ①晶體結(jié)構(gòu)具有周期性(可將晶體視為由許多相互平行且晶面間距（d）相等的原子面組成)； ②X射線具有穿透性，可照射到晶體的各個(gè)原子面上； ③光源及記錄裝置至樣品的距離比d數(shù)量級(jí)大得多，故入射線與反射線均可視為平行光。 入射的平行光照射到晶體中各平行原子面上，各原子面各自產(chǎn)生的相互平行的反射線之間的干涉作用導(dǎo)致了“選擇反射”的結(jié)果，據(jù)此導(dǎo)出了布拉格方程。 設(shè)一束平行的X射線（波長）以 角照射到晶體中晶面指數(shù)為（hkl）的各原子面上，各原子面產(chǎn)生反射。 任選兩相鄰面（A1與A2），反射線光程差=ML+LN=2dsin ；干涉一致加強(qiáng)的條件為=n，即2dsin=n 式中：n——任意整數(shù)，稱反射級(jí)數(shù)，d為（hkl）晶面間距 |
2樓2010-04-28 17:45:19
zncyet
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高興星期五(金幣+30):謝謝 2010-05-03 13:04
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今天的透射電子顯微鏡(TEM)不僅是一臺(tái)放大倍數(shù)可達(dá)100萬倍以上，可以直接分辨小到一兩個(gè)埃的單個(gè)原子的顯微鏡，并且還能進(jìn)行納米尺度的晶體結(jié)構(gòu)及化學(xué)組成分析，成為全面評(píng)價(jià)固體微觀結(jié)構(gòu)的綜合性儀器． TEM制樣方法 （1）金屬載網(wǎng)和支持膜 在光學(xué)顯微鏡下研究各種對(duì)象時(shí)，試樣是放置在玻璃載玻片上．但在電鏡下，由于電子束的穿透能力很弱，不能采用玻璃片作為支持物，而是采用一種很簿的電子透明的薄膜附著在金屬網(wǎng)上作為支持膜． 常用的金屬載網(wǎng)是直徑為3 mm的銅網(wǎng)．其網(wǎng)孔的樣式隨制作方法和所觀察的試樣不同而有差異．對(duì)超薄切片試樣，多用每英寸200目的載網(wǎng)，以保證70％以上的電子光束通過．對(duì)粉末樣品一般以網(wǎng)孔小為宜，可增加支持膜的牢固性。 支持膜應(yīng)當(dāng)易被電子穿透，有足夠的機(jī)械強(qiáng)度，耐電子束轟擊，并具有化學(xué)穩(wěn)定性．由于任何材料制成的膜都或多或少會(huì)造成某種程度的電子散射而降低試樣的反差和結(jié)構(gòu)分辨率，因此，支持膜不應(yīng)太厚，一般在200Å以下為宜．對(duì)較厚的試片，有時(shí)也可不用支持膜，將試片直接故在金屬載網(wǎng)上觀察 2) 高聚物薄膜的制備方法 由高分子試樣0.1％一0.5％的稀溶液在水面或甘油表面制成薄膜，或直接滴在帶有支持膜的銅網(wǎng)上，待溶劑揮發(fā)后，即可得到適于觀察的試片。對(duì)于不能溶解或不宜溶解的粉末試樣，可制成懸浮液，再滴膜． |
3樓2010-04-28 18:04:12
zncyet
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