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xiongying_swust新蟲 (正式寫手)
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[交流]
【請教】關(guān)于薄膜材料的UV-vis表征疑惑之處的請教 已有2人參與
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各位大俠,請教一個問題: 我在p型單晶硅上做了大約2微米厚的寬帶隙半導(dǎo)體材料薄膜(Hall效應(yīng)測量表明是n型導(dǎo)電,載流子濃度和導(dǎo)電率均較高),想通過UV-vis光譜來測量其帶隙結(jié)構(gòu),藉此來分析可能的施主能級位置(距導(dǎo)帶底),最初設(shè)想測鏡面反射率來推算其吸收光譜,但效果很不理想,整個波長范圍內(nèi)(200-1200nm)反射率僅為14%左右,由于薄膜樣品無法自支撐,肯定不能把Si基片去除后直接測其透射光譜的,所以問題主要有: (1)是不是鏡面反射這種測試模式有問題?由于薄膜與Si基底之間的界面結(jié)構(gòu),測出來的數(shù)據(jù)不是真實的膜的值(光線首先被薄膜吸收一部分,反射一部分,透過薄膜的光線在薄膜與Si的界面處再發(fā)生吸收與反射過程,被發(fā)射的光線又要穿過薄膜而到達薄膜與空氣的表面處)? (2)如果采用透射模式測量的話,可否首先測單晶Si片的透射光譜,然后再測樣品(薄膜+Si基底)的透射光譜,最后二者直接相減來得到樣品的透射光譜呢? |
新蟲 (正式寫手)
金蟲 (初入文壇)
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