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shayanaa鐵蟲(chóng) (初入文壇)
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【求助】高分子材料表界面有哪些具體的表征方法 已有10人參與
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| 高分子材料表界面有哪些具體的表征方法?謝謝…… |
高分子乳液分析表征 |
金蟲(chóng) (小有名氣)
鐵蟲(chóng) (初入文壇)
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鐵桿木蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
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這有一點(diǎn)資料,希望對(duì)你有所幫助。一般提供透射電鏡服務(wù)的單位可以委托制樣吧 一、樣品要求 1.粉末樣品基本要求 (1)單顆粉末尺寸最好小于1μm; (2)無(wú)磁性; (3)以無(wú)機(jī)成分為主,否則會(huì)造成電鏡嚴(yán)重的污染,高壓跳掉,甚至擊壞高壓槍; 2.塊狀樣品基本要求 (1)需要電解減薄或離子減薄,獲得幾十納米的薄區(qū)才能觀察; (2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等機(jī)械方法制成粉末來(lái)觀察; (3)無(wú)磁性; (4)塊狀樣品制備復(fù)雜、耗時(shí)長(zhǎng)、工序多、需要由經(jīng)驗(yàn)的老師指導(dǎo)或制備;樣品的制備好壞直接影響到后面電鏡的觀察和分析。所以塊狀樣品制備之前,最好與TEM的老師進(jìn)行溝通和請(qǐng)教,或交由老師制備。 二、送樣品前的準(zhǔn)備工作 1.目的要明確:(1)做什么內(nèi)容(如確定納米棒的生長(zhǎng)方向,特定觀察分析某個(gè)晶面的缺陷,相結(jié)構(gòu)分析,主相與第二相的取向關(guān)系,界面晶格匹配等等);(2)希望能解決什么問(wèn)題; 2.樣品通過(guò)X-Ray粉末衍射(XRD)測(cè)試、并確定結(jié)構(gòu)后,再?zèng)Q定是否做HRTEM;這樣即可節(jié)省時(shí)間,又能在XRD的基礎(chǔ)上獲得更多的微觀結(jié)構(gòu)信息。 3.做HRTEM前,請(qǐng)帶上XRD數(shù)據(jù)及其他實(shí)驗(yàn)結(jié)果,與HRTEM老師進(jìn)行必要的溝通,以判斷能否達(dá)到目的;同時(shí)HRTEM老師還會(huì)根據(jù)您的其他實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),向您提供好的建議,這樣不但能滿足您的要求,甚至使測(cè)試內(nèi)容做得更深,提高論文的檔次。 三、粉末樣品的制備 1.選擇高質(zhì)量的微柵網(wǎng)(直徑3mm),這是關(guān)系到能否拍攝出高質(zhì)量高分辨電鏡照片的第一步;(注:高質(zhì)量的微柵網(wǎng)目前本實(shí)驗(yàn)室還不能制備,是外購(gòu)的,價(jià)格20元/只;普通碳膜銅網(wǎng)免費(fèi)提供使用。) 2.用鑷子小心取出微柵網(wǎng),將膜面朝上(在燈光下觀察顯示有光澤的面,即膜面),輕輕平放在白色濾紙上; 3.取適量的粉末和乙醇分別加入小燒杯,進(jìn)行超聲振蕩10~30min,過(guò)3~5 min后,用玻璃毛細(xì)管吸取粉末和乙醇的均勻混合液,然后滴2~3滴該混合液體到微柵網(wǎng)上(如粉末是黑色,則當(dāng)微柵網(wǎng)周圍的白色濾紙表面變得微黑,此時(shí)便適中。滴得太多,則粉末分散不開(kāi),不利于觀察,同時(shí)粉末掉入電鏡的幾率大增,嚴(yán)重影響電鏡的使用壽命;滴得太少,則對(duì)電鏡觀察不利,難以找到實(shí)驗(yàn)所要求粉末顆粒。建議由老師制備或在老師指導(dǎo)下制備。) 4.等15 min以上,以便乙醇盡量揮發(fā)完畢;否則將樣品裝上樣品臺(tái)插入電鏡,將影響電鏡的真空。 四、塊狀樣品制備 1.電解減薄方法 用于金屬和合金試樣的制備。(1)塊狀樣切成約0.3mm厚的均勻薄片;(2)用金剛砂紙機(jī)械研磨到約120~150μm厚;(3)拋光研磨到約100μm厚;(4)沖成Ф3mm 的圓片;(5)選擇合適的電解液和雙噴電解儀的工作條件,將Ф3mm 的圓片中心減薄出小孔;(6)迅速取出減薄試樣放入無(wú)水乙醇中漂洗干凈。 注意事項(xiàng): (1)電解減薄所用的電解液有很強(qiáng)的腐蝕性,需要注意人員安全,及對(duì)設(shè)備的清洗; (2)電解減薄完的試樣需要輕取、輕拿、輕放和輕裝,否則容易破碎,導(dǎo)致前功盡棄; 2. 離子減薄方法 用于陶瓷、半導(dǎo)體、以及多層膜截面等材料試樣的制備。塊狀樣制備(1)塊狀樣切成約0.3mm厚的均勻薄片;(2)均勻薄片用石蠟粘貼于超聲波切割機(jī)樣品座上的載玻片上;(3)用超聲波切割機(jī)沖成Ф3mm 的圓片;(4)用金剛砂紙機(jī)械研磨到約100μm厚;(5)用磨坑儀在圓片中央部位磨成一個(gè)凹坑,凹坑深度約50~70μm,凹坑目的主要是為了減少后序離子減薄過(guò)程時(shí)間,以提高最終減薄效率;(6)將潔凈的、已凹坑的Ф3mm 圓片小心放入離子減薄儀中,根據(jù)試樣材料的特性,選擇合適的離子減薄參數(shù)進(jìn)行減薄;通常,一般陶瓷樣品離子減薄時(shí)間需2~3天;整個(gè)過(guò)程約5天。 注意事項(xiàng): (1)凹坑過(guò)程試樣需要精確的對(duì)中,先粗磨后細(xì)磨拋光,磨輪負(fù)載要適中,否則試樣易破碎; (2)凹坑完畢后,對(duì)凹坑儀的磨輪和轉(zhuǎn)軸要清洗干凈; (3)凹坑完畢的試樣需放在丙酮中浸泡、清洗和涼干; (4)進(jìn)行離子減薄的試樣在裝上樣品臺(tái)和從樣品臺(tái)取下這二過(guò)程,需要非常的小心和細(xì)致的動(dòng)作,因?yàn)榇藭r(shí)Ф3mm薄片試樣的中心已非常薄,用力不均或過(guò)大,很容易導(dǎo)致試樣破碎。 (5)需要很好的耐心,欲速則不達(dá)。 |

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