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dgchan新蟲 (小有名氣)
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[交流]
【求助】求單晶Si(100)的標(biāo)準(zhǔn)衍射圖
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| 在Si(100)面上鍍膜,XRD顯示12度、35度、70度左右各有一峰,其中70度的峰遠(yuǎn)高于前兩個(gè)度數(shù)的峰,而且查閱文獻(xiàn),其標(biāo)70度峰為Si(400)(他用的也是Si(100)鍍的膜),請(qǐng)問(wèn)為什么會(huì)這樣標(biāo)?而本人做的12度,35度峰,在其文獻(xiàn)中并未出現(xiàn),請(qǐng)問(wèn)是否正常?~謝謝 |

木蟲 (小有名氣)
| 若X射線波長(zhǎng)為1.15406nm時(shí),Si晶格常數(shù)取0.5431nm(Smakula A, Kalnajs J. Precision Determination of Lattice Constants with a Geiger-Counter X-Ray Diffractometer. Physical Review ,1955, 99(6), 1737-1743.)時(shí),粉晶XRD譜圖在(100)(200,32.96滿足4n+2)位置從理論上分析是會(huì)出現(xiàn)消光現(xiàn)象的。但用衍射儀測(cè)量Si基(100)薄膜時(shí)常觀測(cè)到(200)衍射峰。在使用X射線衍射儀測(cè)量薄膜材料時(shí),常采用衍射儀進(jìn)行掃描,一般有兩種工作方式,一種是X射線不動(dòng),樣品旋轉(zhuǎn)theta,探測(cè)器旋轉(zhuǎn)2theta ,另一種是樣品不動(dòng)X射線與探測(cè)器分別以順時(shí)針和逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)theta。由此可知,樣品中只有與基片平行的晶面才能被衍射儀測(cè)量到,這樣Si的其它衍射峰就看不到了,但為什么出現(xiàn)(200),我也不是很清楚,但應(yīng)該是與Si基片為單晶片有關(guān),測(cè)量時(shí)光線相干涉引起的。還有待高人幫助分析。 |
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