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[交流]
【討論】催化劑的活性位結(jié)構(gòu)確定和活性顆粒同載體相互作用的表征
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| 催化反應(yīng)中,催化劑的活性位結(jié)構(gòu)和活性顆粒同載體相互作用是非常重要的課題。大家有沒有比較系統(tǒng)可靠的方法來解決這反面的問題。如果大家回答的多了,可以考慮整理一下,搞個(gè)這方面的專題。望大家踴躍發(fā)言。 |
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活性位的形成過程,催化劑的活性位結(jié)構(gòu),活性顆粒同載體相互作用,活性點(diǎn)在載體表面吸附的位置,還有在催化過程中活性點(diǎn)的結(jié)構(gòu)變化都是非常重要的課題。個(gè)人感覺在這方面的研究還存在著很多困難。利用表面科學(xué)手段,諸如 利用STM&AFM的高度原子分辨率, IRAS的表面垂直方向的選擇性,等等都能直接的或間接的給出構(gòu)造方面的信息。可是表面科學(xué)研究到實(shí)際催化劑的運(yùn)用還是有很大的差距,近幾十年,對于material gap和pressure gap的研究和討論有很多很多,其中有非常優(yōu)秀的研究,諸如Somorjai, Goodman, Salmeron group。 不過感覺上,還沒有很好解決這些問題。 具有能與STM和AFM匹敵的構(gòu)造分析手段有XAFS.近幾年來,越來越受到關(guān)注。XAFS的優(yōu)點(diǎn)有,第一:從粉末到單結(jié)晶,無論樣品是什么形態(tài),都可以有辦法測定。所以XAFS可以作為橋梁來連接表面科學(xué)和實(shí)際催化劑。第二,最近XAFS測試方法多種多樣,如Quick XAFS 和Energy-dispersed XAFS的進(jìn)行in-situ測定,從而追蹤反應(yīng)中的結(jié)構(gòu)變化。Polarization-dependent total reflection fluorescence XAFS (PTRF-XAFS)可以給出晶體表面吸附質(zhì)的擬3次元結(jié)構(gòu),對于確定活性位的吸附位置很有幫助。 XAFS也有缺點(diǎn),第一,一般需要同步輻射,并不是隨時(shí)隨地可以測試。第二, 對于不均勻的樣品,XAFS就顯示不出其優(yōu)越性了,XANES部分還可以進(jìn)行分峰分析,EXAFS的解析就幾乎不可能。畢竟,XAFS是看樣品的全體,不是局部。 第三, 數(shù)據(jù)的分析,隨意性還是比較大,近年這方面的到了很大的改善。特別是FEFF出來以后,還是能夠的到比較讓人滿意的結(jié)果。不過數(shù)據(jù)的擬和,是通過5-7個(gè)path parameters來確定,它們之間又有相關(guān),對于復(fù)雜的體系,有時(shí)擬和的最好的數(shù)據(jù)不一定能過反應(yīng)真實(shí)結(jié)構(gòu),在這點(diǎn)上還是需要改善研究。建摸擬和是個(gè)好辦法,不過需要很大工作量?傊瑐(gè)人感覺XAFS是很不錯(cuò),不過如果還能改善不足的花,那就更加棒了。 |
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