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小木蟲論壇-學術科研互動平臺 » 材料區(qū) » 晶體 » 測試表征 » 關于高分辨電子顯微學的一些問題
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ilal2007新蟲 (小有名氣)
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[求助]
關于高分辨電子顯微學的一些問題
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求助幾個題目，實在是不懂怎么回答了，整個人都崩潰了 1。透射電鏡技術與X-射線，中子衍射技術和掃描電鏡技術比較在材料結構表征測量方面有什么優(yōu)勢？ 2.預測晶體衍射出現(xiàn)的方向，有哪兩種基本方法，具體怎么操作？ 3.高分辨透射電鏡像是明場像還是暗場像？掃描透射電鏡(STEM)成的Z-村度是明場像還是暗場像？ 4.什么是原子（分辨率）像？在現(xiàn)代透射（掃描）電鏡技術中有哪幾種獲得原子像的成像方法？ 這是相當于考試的題目了，所以要比較詳細才行了，不知道有沒有人能幫忙了，并且時間很緊，5月4號是底線了。 |
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【答案】應助回帖
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nash603(金幣+1): 謝謝回貼交流！ 2011-04-28 10:32:52
ilal2007(金幣+10): 謝謝咯，嘿嘿，余下的問題怎么回答�。勘M量詳細點啊。 2011-04-28 12:32:24
nash603(金幣+1): 謝謝回貼交流！ 2011-04-28 10:32:52
ilal2007(金幣+10): 謝謝咯，嘿嘿，余下的問題怎么回答�。勘M量詳細點啊。 2011-04-28 12:32:24
 您好！求助幾個題目，實在是不懂怎么回答了，整個人都崩潰了 1。透射電鏡技術與X-射線，中子衍射技術和掃描電鏡技術比較在材料結構表征測量方面有什么優(yōu)勢？ 答： 透射電鏡技術：可以做real space(成像)，reciprocal space(電子衍射)，EDX(能譜分析)，所以是一個3D的分析技術。最近新技術加入了時空間，已經發(fā)展為4D了。優(yōu)勢：能分析納米級，原子簇等，確定X射線不能確定的輕原子。原位TEM和高分辨(HRTEM)也是其特色。 X-射線（單晶和粉末），一維信息，強度和角度。盡管現(xiàn)在已經發(fā)展到了面探測器，但是研究材料一般只能應用于微米級尺度以上。分析技術有PDF（對分布函數）real space，和reciprocal space。優(yōu)勢：實驗采集較顯微技術方便，數據處理理論成熟。 中子衍射技術，類似于XRD技術，由于中子波和電子波都屬于德布羅意物質波，作用方式與X射線不同，所以中子技術能探測原子核。優(yōu)勢：能確定X射線不能確定的輕原子，磁性結構等。 掃描電鏡技術：應用二次電子和背散射電子源成像（襯度），做元素分布mapping，做EELS等。 2.預測晶體衍射出現(xiàn)的方向，有哪兩種基本方法，具體怎么操作？ 答：晶體衍射出現(xiàn)的方向，有電子衍射，中子衍射，XRD都能分析。 操作（略） 謝謝大家補充指正。（后面兩題，考慮一下，在一起討論） |
2樓2011-04-28 10:23:54
【答案】應助回帖
ilal2007(金幣+10): 謝謝你的回答，可是你的第三，四題的答案和問題沒什么太大的關系啊，呵呵。 2011-05-01 18:46:18
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你好！ 3.高分辨透射電鏡像是明場像還是暗場像？掃描透射電鏡(STEM)成的Z-村度是明場像還是暗場像？ 答：只有晶體試樣形成的衍襯像才存明場像與暗場像之分（暗場和明場的概念就不說了）。暗場掃描透射電子顯微鏡：原子序數襯度圖像（Z襯度圖像）。 4.什么是原子（分辨率）像？在現(xiàn)代透射（掃描）電鏡技術中有哪幾種獲得原子像成像方法？ 答：HRTEM是相位襯度顯微技術，能使大多數晶體材料中的原子列成像。 第二個問題，因為要形成高分辨原子像是所有參加成像的衍射束和透射束之間的相位差而引起的干涉圖像，故高分辨成像方法就一種相位襯度。 謝謝參考指正！ Refer to : 電子顯微技術 章曉中 編著 清華大學出版社 |
3樓2011-05-01 15:35:11
4樓2011-05-03 09:36:14
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