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imrsfb鐵桿木蟲 (著名寫手)
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Science最新報(bào)道:納米材料的三維透射電鏡表征研究取得重要進(jìn)展
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Three-Dimensional Orientation Mapping in the Transmission Electron Microscope 大多數(shù)固體材料是由成千上萬個(gè)小晶體組成,這些小晶體的取向、大小、形狀以及它們在樣品內(nèi)的三維空間分布和排列決定了材料的性能。最近,中國科學(xué)院金屬研究所沈陽材料科學(xué)國家(聯(lián)合)實(shí)驗(yàn)室劉志權(quán)研究員與丹麥科技大學(xué)Risø可持續(xù)能源國家實(shí)驗(yàn)室、清華大學(xué)、美國約翰霍普金斯大學(xué)的科學(xué)家們共同合作,開發(fā)出了一種利用透射電子顯微鏡對納米材料進(jìn)行直接三維定量表征的新方法,這一成果發(fā)表在5月13日出版的《科學(xué)》周刊上Science332(2011)833. (http://www.sciencemag.org/content/332/6031/833.full) 通常,材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)信息是通過對截面樣品的二維觀察得到的,這種二維觀察不能提供材料內(nèi)部小晶體在三維空間的相對分布和晶界特性等重要的微觀結(jié)構(gòu)參數(shù),從而制約了對材料微觀結(jié)構(gòu)與宏觀性能相互關(guān)系的深刻理解和材料性能的改進(jìn)和優(yōu)化。近年來,在世界范圍內(nèi),科學(xué)家們就開發(fā)先進(jìn)的微觀結(jié)構(gòu)三維表征技術(shù)進(jìn)行了不懈的努力探索,三維X-射線衍射技術(shù)的成功開發(fā)和應(yīng)用就是一個(gè)重要例子。但是這種技術(shù)的空間分辨率只能達(dá)到100納米 (1納米=百萬分之一毫米)。本次合作開發(fā)的新的三維透射電子顯微技術(shù)其空間分辨率已達(dá)到1納米,比三維X-射線衍射技術(shù)提高了兩個(gè)數(shù)量級。 這種新的三維透射電鏡表征技術(shù)是表征納米材料的理想方法,它可對組成納米材料的各個(gè)小晶體進(jìn)行精確描述,包括其各個(gè)晶體的取向、大小、形狀和在三維樣品內(nèi)的空間位置等。圖1所示的是利用這種方法得到的納米金屬鋁的三維微觀結(jié)構(gòu)特征圖的一個(gè)例子。圖中不同顏色表示不同的晶體取向,晶體的大小(從幾納米到約100納米)和形狀(伸長的或球體狀的)都清晰地顯示出來了。這些微觀結(jié)構(gòu)參數(shù)的精確定量測定為理解和優(yōu)化納米材料的性能提供了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。 這一方法的一個(gè)重要優(yōu)點(diǎn)是它是一種“無損”的分析技術(shù),即在微觀表征過程中不破壞樣品,因此它可用來研究納米材料微觀結(jié)構(gòu)在外加條件下(如加熱或變形)的演變過程,從而為研究納米材料的動態(tài)行為開辟了新的途徑。 http://www.imr.cas.cn/xwzx/kydt/201105/t20110513_3132072.html 圖1. 納米金屬鋁的三維微觀結(jié)構(gòu)特征圖清晰地顯示了樣品內(nèi)各個(gè)晶體在三維空間的形狀、大小和位置。圖中不同顏色表示不同的晶體取向。 |
材料科學(xué)最新前沿?zé)狳c(diǎn) | 資源收集 | 電鏡表征 | 研究方向——電鏡 |
鐵桿木蟲 (著名寫手)
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黃曉旭是riso的科學(xué)家,這篇文字是從金屬所網(wǎng)站上找到,也只是對此項(xiàng)工作的介紹而已。論文第一單位是riso,第二單位清華,第三才是金屬所。 Three-Dimensional Orientation Mapping in the Transmission Electron Microscope H. H. Liu,1 S. Schmidt,1 H. F. Poulsen,1 A. Godfrey,2 Z. Q. Liu,3 J. A. Sharon,4 X. Huang1,5* Over the past decade, efforts have been made to develop nondestructive techniques for three-dimensional (3D) grain-orientation mapping in crystalline materials. 3D x-ray diffraction microscopy and differential-aperture x-ray microscopy can now be used to generate 3D orientation maps with a spatial resolution of 200 nanometers (nm). We describe here a nondestructive technique that enables 3D orientation mapping in the transmission electron microscope of mono- and multiphase nanocrystalline materials with a spatial resolution reaching 1 nm. We demonstrate the technique by an experimental study of a nanocrystalline aluminum sample and use simulations to validate the principles involved. |
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