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imrsfb鐵桿木蟲(chóng) (著名寫(xiě)手)
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Science最新報(bào)道：納米材料的三維透射電鏡表征研究取得重要進(jìn)展
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Three-Dimensional Orientation Mapping in the Transmission Electron Microscope 大多數(shù)固體材料是由成千上萬(wàn)個(gè)小晶體組成，這些小晶體的取向、大小、形狀以及它們?cè)跇悠穬?nèi)的三維空間分布和排列決定了材料的性能。最近，中國(guó)科學(xué)院金屬研究所沈陽(yáng)材料科學(xué)國(guó)家（聯(lián)合）實(shí)驗(yàn)室劉志權(quán)研究員與丹麥科技大學(xué)Risø可持續(xù)能源國(guó)家實(shí)驗(yàn)室、清華大學(xué)、美國(guó)約翰霍普金斯大學(xué)的科學(xué)家們共同合作，開(kāi)發(fā)出了一種利用透射電子顯微鏡對(duì)納米材料進(jìn)行直接三維定量表征的新方法，這一成果發(fā)表在5月13日出版的《科學(xué)》周刊上Science332(2011)833. (http://www.sciencemag.org/content/332/6031/833.full) 通常，材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)信息是通過(guò)對(duì)截面樣品的二維觀察得到的，這種二維觀察不能提供材料內(nèi)部小晶體在三維空間的相對(duì)分布和晶界特性等重要的微觀結(jié)構(gòu)參數(shù)，從而制約了對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)與宏觀性能相互關(guān)系的深刻理解和材料性能的改進(jìn)和優(yōu)化。近年來(lái)，在世界范圍內(nèi)，科學(xué)家們就開(kāi)發(fā)先進(jìn)的微觀結(jié)構(gòu)三維表征技術(shù)進(jìn)行了不懈的努力探索，三維X-射線衍射技術(shù)的成功開(kāi)發(fā)和應(yīng)用就是一個(gè)重要例子。但是這種技術(shù)的空間分辨率只能達(dá)到100納米 (1納米=百萬(wàn)分之一毫米）。本次合作開(kāi)發(fā)的新的三維透射電子顯微技術(shù)其空間分辨率已達(dá)到1納米，比三維X-射線衍射技術(shù)提高了兩個(gè)數(shù)量級(jí)。 這種新的三維透射電鏡表征技術(shù)是表征納米材料的理想方法，它可對(duì)組成納米材料的各個(gè)小晶體進(jìn)行精確描述，包括其各個(gè)晶體的取向、大小、形狀和在三維樣品內(nèi)的空間位置等。圖１所示的是利用這種方法得到的納米金屬鋁的三維微觀結(jié)構(gòu)特征圖的一個(gè)例子。圖中不同顏色表示不同的晶體取向，晶體的大小（從幾納米到約100納米）和形狀（伸長(zhǎng)的或球體狀的）都清晰地顯示出來(lái)了。這些微觀結(jié)構(gòu)參數(shù)的精確定量測(cè)定為理解和優(yōu)化納米材料的性能提供了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。 這一方法的一個(gè)重要優(yōu)點(diǎn)是它是一種“無(wú)損”的分析技術(shù)，即在微觀表征過(guò)程中不破壞樣品，因此它可用來(lái)研究納米材料微觀結(jié)構(gòu)在外加條件下（如加熱或變形）的演變過(guò)程，從而為研究納米材料的動(dòng)態(tài)行為開(kāi)辟了新的途徑。 http://www.imr.cas.cn/xwzx/kydt/201105/t20110513_3132072.html 圖1. 納米金屬鋁的三維微觀結(jié)構(gòu)特征圖清晰地顯示了樣品內(nèi)各個(gè)晶體在三維空間的形狀、大小和位置。圖中不同顏色表示不同的晶體取向。 |
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毛猴
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9樓2011-05-16 12:41:08
毛猴
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黃曉旭是riso的科學(xué)家，這篇文字是從金屬所網(wǎng)站上找到，也只是對(duì)此項(xiàng)工作的介紹而已。論文第一單位是riso，第二單位清華，第三才是金屬所。 Three-Dimensional Orientation Mapping in the Transmission Electron Microscope H. H. Liu,1 S. Schmidt,1 H. F. Poulsen,1 A. Godfrey,2 Z. Q. Liu,3 J. A. Sharon,4 X. Huang1,5* Over the past decade, efforts have been made to develop nondestructive techniques for three-dimensional (3D) grain-orientation mapping in crystalline materials. 3D x-ray diffraction microscopy and differential-aperture x-ray microscopy can now be used to generate 3D orientation maps with a spatial resolution of 200 nanometers (nm). We describe here a nondestructive technique that enables 3D orientation mapping in the transmission electron microscope of mono- and multiphase nanocrystalline materials with a spatial resolution reaching 1 nm. We demonstrate the technique by an experimental study of a nanocrystalline aluminum sample and use simulations to validate the principles involved. |
4樓2011-05-13 14:23:05
毛猴
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