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zwzsn1989新蟲 (初入文壇)
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[求助]
有關(guān)改善ITO/HTL界面問題的求助
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新手金幣不多,問個“白癡”問題哈,不知道是不是應(yīng)該發(fā)在這兒,希望有人耐心幫我下 最近看的第一篇文獻(xiàn)上提到改善ITO/HTL界面注入能壘時,提到了兩個方法,一個是加入一層薄的有機(jī)中間層organic interlayer,也就是HIL。另一個是加入一層薄的無機(jī)緩沖層a nanometer-thick inorganic buffer layer,例如MoO3. 我奇怪的是第二種方法不也是加入HIL么?難道這兩者機(jī)理不一樣?即使是無機(jī)氧化物,不也應(yīng)該是利用HIM的HOMO能級在ITO費(fèi)米能級與HTLHOMO能級之間做一個臺階,進(jìn)行能級匹配嗎? 但文獻(xiàn)只認(rèn)為加入有機(jī)層才是這個機(jī)理,而加入無機(jī)層的機(jī)理是:a nanometer-thick inorganic buffer layer(mostly a metal oxide like MoO3 and Pr2O3) is deposited on ITO to sustain a positive voltage drop, which effectively displaces the Fermi level of ITO downward. 希望有人給我簡單說說這兩種方法機(jī)理的區(qū)別,哪怕只是翻譯一下上面那個句子也好。謝謝啦~~ |
光電化學(xué) |
金蟲 (小有名氣)
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首先,無機(jī)材料不存在HOMO、LUMO的概念了,應(yīng)該說導(dǎo)帶和價帶是吧 我分析了一下,文獻(xiàn)的意思是說: 普通時候,ITO的Fermi能級是“—”(平的); 使用有機(jī)材料作空穴緩沖/傳輸層時,作為陽極的ITO的Fermi能級是“\”向下傾斜的(就是為了和HIL、HTL搭好臺階); 使用無機(jī)材料如MoO3,NiO作空穴緩沖/傳輸層時,無機(jī)材料可以承擔(dān)正向的電壓降,有效地緩解了ITO的Fermi能級向下傾斜。 這是我個人的見解,歡迎交流討論 另外我覺得無機(jī)的空穴緩沖層比有機(jī)材料更穩(wěn)定 |
金蟲 (著名寫手)
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首先,改善能壘并不是只是這兩個辦法 其次,ITO/HIL/HTL你理解的意思跟我一樣 第三,那段英文的意思我理解如下:將納米厚度的無機(jī)緩沖層(大多數(shù)是金屬氧化物如MoO3和Pr2O3)沉積到ITO上是為了保持一個正的電壓降,這個電壓降有效的代替了ITO費(fèi)米能級的下降。 第四,換句話說,針對那段英文的意思,觀點(diǎn)目前與emuch_ID=劉志民所言一致,我們現(xiàn)在可以得出的一個結(jié)論是,“ITO費(fèi)米能級的下降”是一個不好的現(xiàn)象。這個結(jié)論要確認(rèn)。 第五,我覺得,無機(jī)緩沖層與ITO的相容性更好,似乎可以認(rèn)為是對ITO的修飾。這個觀點(diǎn)供討論。 問題很好哈,歡迎常來發(fā)問。最好附上原始文獻(xiàn)出處 |
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