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有哪位大神解釋下RRAM測(cè)試IV過程中的軟擊穿的問題 為什么要進(jìn)行軟擊穿? 已有4人參與
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| 有哪位大神解釋下RRAM測(cè)試IV過程中的軟擊穿的問題 為什么要進(jìn)行軟擊穿? |

金蟲 (著名寫手)

銀蟲 (初入文壇)
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這和RRAM高低阻態(tài)轉(zhuǎn)變機(jī)制有關(guān)。 目前比較廣泛接受的想法是conductive filament (CF) 導(dǎo)電通道。 對(duì)于TiN/Ti/HfO2/TiN結(jié)構(gòu): 首先,一個(gè)氧在電場(chǎng)作用下從阻變層(比如HfO2)中遷移到氧庫(原文中用的是oxygen reservoir,因?yàn)榭吹奈墨I(xiàn)都是英文的,所以我也不知道怎么翻譯好,但是意思明白就好,暫且叫”氧庫“)(比如Ti),這樣就在阻變層形成一個(gè)氧空位?瘴环e累后在上下電極間形成導(dǎo)電通道。形成導(dǎo)電通道就從HRS(高阻態(tài))轉(zhuǎn)到了LRS(低阻態(tài)),從這個(gè)就是您說的dielectric soft breakdown軟擊穿。 然后,加另一電壓(方向看器件是Unipolar還是Bipolar),氧從氧庫里遷移回去了,氧空位消失,導(dǎo)電通道切斷,這樣就從LRS轉(zhuǎn)到HRS。 要想再轉(zhuǎn)回HRS就要加偏壓,促使氧遷移,形成空位,導(dǎo)電通道接通。 所以按照這個(gè)機(jī)制來說,dielectric soft breakdown正是阻態(tài)變化的過程。 有說錯(cuò)的地方請(qǐng)批評(píng)指正 ![]() P.s.:我也對(duì)RRAM很感興趣,希望多交流 |

新蟲 (初入文壇)
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