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houhualong木蟲 (正式寫手)
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磁控濺射鍍金屬膜,SEM可以看到晶粒大小嗎,還是用AFM? 已有13人參與
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| 如題,磁控濺射鍍金屬膜,SEM可以看到晶粒大小嗎,還是用AFM?我是在不同功率、不同氣壓下做的,想看看各個參數(shù)下的形貌有什么區(qū)別,估計低倍下受基體劃痕影響較大,想通過高倍看看晶粒大小有什么變化。不知有沒有這樣做的蟲友,傳授一下經(jīng)驗,O(∩_∩)O謝謝。 |

金蟲 (正式寫手)
| 我們這兩種都做過,先說SEM吧(拿TiN薄膜為例),我們是直接在Si襯底上生長TiN,正如樓上有人所說,由于薄膜表面平坦度較好,所以可能導致SEM圖的Contrast較低,圖像分辨的不是很清楚,但還是可以看到的晶粒的,不過這要取決于薄膜的厚度和SEM的水平了。對于AFM,這個看表明的晶;臼菦]有什么問題的(如果你只是為了看看不同條件對晶粒的影響),不過要想計算平均晶粒尺寸,還需要特定的軟件,我們在做金屬氧化物正交實驗時發(fā)現(xiàn),功率是影響晶粒大小的關鍵因素,而壓強、靶基距、氣體流量對晶粒的影響不大,可以作為對薄膜淀積的參考(僅限參考),所以,你要想觀察晶粒尺寸的話,AFM和SEM都可用(推薦使用AFM),就看你AFM和SEM的水平了。PS:AFM和SEM在同樣比例尺下的圖可能觀察到的晶粒完全不同,這很正常,因為前者是利用探針和物體表面接觸反饋進行的成像,而后者是利用二次電子進行的成像,所以如果你想要進行比較,最好是在同一種表征手段下進行比較,否則可比性不大。希望對你有所幫助! |
金蟲 (著名寫手)


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