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亦?新蟲 (小有名氣)
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[求助]
關(guān)于掃描電鏡與背散射成像的問題 已有6人參與
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| 觀察掃描電鏡之前將金屬樣品腐蝕的目的是什么，不腐蝕可以觀察嗎？ 相同的問題對于背散射是怎樣的？ |
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peterflyer 
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peterflyer
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3樓2015-11-19 16:20:36
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2樓2015-11-19 11:29:22
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4樓2015-11-19 17:50:02
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【答案】應(yīng)助回帖
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SEM觀察形貌是二次電子（SE）成像，電子發(fā)射于樣品表層，如光鏡一樣需要形成明暗襯度，二次電子在樣品表面出現(xiàn)襯度需要浮凸，即有斜坡的地方二次電子在熒光屏上的產(chǎn)額多就更亮，若拋光良好不腐蝕，表面就是個(gè)大平板，無二次電子分布的明暗襯度； 背散射電子（BSE）也是SEM中重要成像信號，電子發(fā)射于較為深層，其主要貢獻(xiàn)于成分差別造成的襯度，對比二次電子成像圖會發(fā)現(xiàn)其顯得平面化，不如SE有立體感；此外，由于BSE發(fā)射于樣品表面較深處，往往能體現(xiàn)出取向差異的襯度，如對于退火再結(jié)晶的樣品，不需侵蝕就可以用BSE信號觀察晶粒形貌，對于像超低碳鋼、高純鋁的退火再結(jié)晶樣品晶界侵蝕非常難，不如用BSE成像觀察，會有意想不到的效果 |
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亦?5樓2015-11-22 13:11:01
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